基礎・境界/NOLTA-信頼性(開催日：2004/11/05)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2004/11/5
[資料番号]
目次

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[発表日]2004/11/5
[資料番号]
国際規格に基づく制御則の確率的安全性評価・管理の試み(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

陶山 貢市,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-40,ED2004-153
SOI基板上の横形IGBTにおける耐圧特性の経時変化(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

澄田 仁志,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-41,ED2004-154
Au配線技術に対するエレクトロマイグレーション評価(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

宮下 直之,  岩上 哲一,  五味 俊二,  古川 幸彦,  斉藤 淳二,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-42,ED2004-155
窒化物電子デバイスにおけるショットキー界面および絶縁体界面の制御(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

橋詰 保,  小谷 淳二,  長谷川 英機,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-43,ED2004-156
Cat-CVD法によるAlGaN/GaN HEMT表面のSiN膜パッシベーション(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

戸塚 正裕,  奥 友希,  宮國 晋一,  志賀 俊彦,  國井 徹郎,  加茂 宣卓,  中野 博文,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-44,ED2004-157
フッ素系プラズマによる損傷とその回復に関する検討(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

紀川 健,  谷口 隆文,  内山 博幸,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-45,ED2004-158
i線露光0.18μmゲートGaAs-MESFETの信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

登坂 保弘,  渡邉 昌崇,  福士 大地,  矢野 浩,  中島 成,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-46,ED2004-159
衝突イオン化抑制によるInP HEMTの信頼性改善(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

原 直紀,  岡本 直哉,  今西 健治,  高橋 剛,  牧山 剛三,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-47,ED2004-160
InP HBTとデジタルICsの高温通電による特性変動の相関(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

深井 佳乃,  栗島 賢二,  井田 実,  山幡 章司,  榎木 孝知,  

[発表日]2004/11/5
[資料番号]R2004-48,ED2004-161
複写される方へ

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[発表日]2004/11/5
[資料番号]
奥付

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[発表日]2004/11/5
[資料番号]