基礎・境界/NOLTA-信頼性(開催日:1999/11/19)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]1999/11/19
[資料番号]
目次

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[発表日]1999/11/19
[資料番号]
機能安全規格における安全度水準モデルについて : 前報におけるアルゴリズムの若干の修正

加藤 栄一,  佐藤 吉信,  堀籠 教夫,  

[発表日]1999/11/19
[資料番号]R99-18
スタッドバンプ形成時の衝撃応力がデバイス劣化領域に及ぼす影響

下山 展弘,  町田 克之,  小泉 弘,  嶋屋 正一,  久良木 億,  

[発表日]1999/11/19
[資料番号]R99-19
発光ダイオードの寿命推定について

庄野 弘晃,  

[発表日]1999/11/19
[資料番号]R99-20
エミッタ・ベース逆バイアスストレスでのhFE劣化におけるコレクタ状態の影響

安田 智,  札谷 正美,  中野 真治,  

[発表日]1999/11/19
[資料番号]R99-21
フラッシュメモリの書込/消去方法の信頼性への影響

登川 一郎,  加藤 剛,  中野 真治,  

[発表日]1999/11/19
[資料番号]R99-22
Flip Chip対応裏面EBテスティング手法の検討

吉田 映二,  中嶋 太一,  小山 徹,  小守 純子,  益子 洋治,  

[発表日]1999/11/19
[資料番号]R99-23
[OTHERS]

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[発表日]1999/11/19
[資料番号]