基礎・境界/NOLTA-信頼性(開催日:1994/03/18)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]
目次

,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]
ベイズによる信頼性成長評価

池本 誠,  堀篭 教夫,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-67,CPM93-133
宇宙用有機材料のアウトガスラウンドロビン試験

渡邊 孝,  河野 剛,  田渕 通雄,  黒崎 忠明,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-68,CPM93-134
IECにおける電子部品信頼性の予測の考え方について

武藤 時雄,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-69,CPM93-135
薄型化にともなうICパッケージの設計手法

石橋 正博,  藤本 淳,  森重 季夫,  金田 賢一,  反田 哲夫,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-70,CPM93-136
樹脂封止パッケージのT/C寿命の予測

加我 由佳里,  齋藤 武博,  藤本 淳,  宇野 隆行,  石橋 正博,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-71,CPM93-137
ゲート酸化膜信頼性の形状効果の新しい予測モデル

濱田 誠,  庄野 健,  石田 憲治,  田中 三樹,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-72,CPM93-138
工程開発・改良時の品質評価項目決定のためのシステム構築

木村 恵英,  藤田 康治,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-73,CPM93-139
電位像を用いたロジックLSIの故障箇所絞り込み手法の応用

加藤 正次,  中村 豊一,  花釜 康子,  平田 幸雄,  大金 秀治,  小西 永二,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-74,CPM93-140
動的故障像取得によるLSIの故障箇所絞り込み

中村 豊一,  花釜 康子,  大金 秀治,  諸橋 賢治,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-75,CPM93-141
EBテスタによるメモリの故障解析

浜田 弘幸,  辻出 徹,  中泉 一雄,  菱井 利祐,  斎藤 信一,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-76,CPM93-142
第19回国際故障解析シンポジウム(ISTFA'93)参加報告

大西 一功,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]R93-77,CPM93-143
[OTHERS]

,  

[発表日]1994/3/18
[資料番号]