エレクトロニクス-シリコン材料・デバイス(開催日:2005/12/14)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2005/12/14
[資料番号]
目次

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[発表日]2005/12/14
[資料番号]
シリコンナノクリスタルドットの形成(半導体Si及び関連材料・評価)

向 正人,  市川 和典,  パンチャイペッチ P.,  矢野 裕司,  畑山 智亮,  浦岡 行治,  冬木 隆,  東名 敦志,  高橋 英治,  林 司,  緒方 潔,  播磨 弘,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-201
イオン注入法を用いたSiナノクリスタルのサイズ制御と領域選択成長(半導体Si及び関連材料・評価)

中間 勇二,  桂 洋介,  太田 淳,  布下 正宏,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-202
直線偏光Nd:YAGレーザーによる規則性配列微細Siドットの形成(半導体Si及び関連材料・評価)

西岡 賢祐,  堀田 將,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-203
カーボン光吸収層を用いたシリコン膜の結晶化(半導体Si及び関連材料・評価)

鮫島 俊之,  牧 正人,  佐野 直樹,  安藤 伸行,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-204
シリコンゲルマニウム膜のレーザ結晶化(半導体Si及び関連材料・評価)

鮫島 俊之,  渡壁 創,  菅野 裕士,  宮尾 正信,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-205
薄膜トランジスタの結晶粒界のトラップ密度の抽出方法の開発 : デバイスシミュレータによる抽出方法と抽出結果(半導体Si及び関連材料・評価)

原田 聖,  安原 徹,  木村 睦,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-206
SiO_2/Si界面の特性の解析(半導体Si及び関連材料・評価)

鮫島 俊之,  甕 克行,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-207
超低温ポリSi TFTプロセス(U-LTPS)(半導体Si及び関連材料・評価)

野口 隆,  /,  /,  /,  /,  /,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-208
TFT-OLEDにおける電流均一化時間階調方式の特性劣化耐性 : 回路シミュレーションによる評価結果と考察(半導体Si及び関連材料・評価)

加藤 正和,  原 裕司,  木村 睦,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-209
シリコンナノスケールデバイス(半導体Si及び関連材料・評価)

平本 俊郎,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-210
新強誘電体機能メモリの回路と応用 : Chain FRAMを用いた新強誘電体機能メモリの回路と検索アルゴリズム(半導体Si及び関連材料・評価)

野澤 博,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-211
インクジェット法によるビスマス系強誘電体薄膜の作製(半導体Si及び関連材料・評価)

山口 正樹,  増田 陽一郎,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-212
DVS-BCBを用いた低誘電率膜堆積プラズマプロセスのその場FTIR気相診断(半導体Si及び関連材料・評価)

西村 好康,  白藤 立,  橘 邦英,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-213
酸素クラスターイオンビーム援用蒸着法によるSi基板上への光触媒TiO_2薄膜の作製(半導体Si及び関連材料・評価)

川下 将一,  寺田 尚史,  高岡 義寛,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-214
FinFET型多値フラッシュメモリの動作解析(半導体Si及び関連材料・評価)

上野山 覚,  楠 友邦,  齋木 俊秀,  前田 佳均,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-215
ボロンガスクラスターイオンビームドーピングによるPMOSFETのエクステンション形成(半導体Si及び関連材料・評価)

山下 朋弘,  林 岳,  西田 征男,  川崎 洋司,  黒井 隆,  尾田 秀一,  栄森 貴尚,  大路 譲,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-216
ハイブリッドトレンチ分離SOIデバイスにおけるボディ電位制御技術(半導体Si及び関連材料・評価)

岩松 俊明,  辻内 幹夫,  平野 有一,  池田 龍彦,  小松 大士,  牧 幸生,  一法師 隆志,  前川 繁登,  大路 譲,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-217
FD-SOI MOSFETの高周波小信号特性の高精度モデリング(半導体Si及び関連材料・評価)

村上 豊生,  金 奎哲,  木原 崇雄,  後藤 克,  松岡 俊匡,  谷口 研二,  

[発表日]2005/12/14
[資料番号]SDM2005-218
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