エレクトロニクス-シリコン材料・デバイス(開催日:2005/11/18)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]
目次

,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]
低温多結晶シリコン薄膜トランジスタにおける信頼性評価技術(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

浦岡 行治,  冬木 隆,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-38,ED2005-173,SDM2005-192
有機ELディスプレイ用水蒸気バリア膜の形成 : 低温触媒CVD装置の開発(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

部家 彰,  南川 俊治,  仁木 敏一,  南 茂平,  増田 淳,  梅本 宏信,  松尾 直人,  松村 英樹,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-39,ED2005-174,SDM2005-193
Hole注入法によるNBTI評価手法及び寿命予測方法の開発(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

寺本 章伸,  渡辺 一史,  黒田 理人,  三富士 道彦,  山葉 隆久,  須川 成利,  大見 忠弘,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-40,ED2005-175,SDM2005-194
SOIウェーハの非接触電気特性評価(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

宇野 良平,  吉田 晴彦,  佐藤 真一,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-41,ED2005-176,SDM2005-195
Scanチェーンを活用した故障部位特定手法とその解析事例(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

片岡 武,  渡部 尚数,  河南 靖,  田中 雅二,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-42,ED2005-177,SDM2005-196
動作電流密度2mA/μm^2以上で高信頼性を有するレッジ付きInP HBT(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

深井 佳乃,  栗島 賢二,  井田 実,  山幡 章司,  榎木 孝知,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-43,ED2005-178,SDM2005-197
GaAs高周波デバイスの湿度に起因した劣化(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

野上 洋一,  日坂 隆行,  吉田 直人,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-44,ED2005-179,SDM2005-198
水素プラズマ照射されたn型窒化ガリウムの電気特性評価(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

須田 将之,  中村 成志,  須原 理彦,  奥村 次徳,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-45,ED2005-180,SDM2005-199
ナノメートルショットキーゲートAlGaN/GaN HFETにおける異常ゲートリーク電流とゲート制御性に関する検討(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

葛西 誠也,  小谷 淳二,  長谷川 英機,  橋詰 保,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]R2005-46,ED2005-181,SDM2005-200
複写される方へ

,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]
Notice about photocopying

,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]
奥付

,  

[発表日]2005/11/18
[資料番号]