Presentation | |
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Hideki Isono(FOC), [Date]2019-08-22[Paper #]R2019-24,EMD2019-22,CPM2019-23,OPE2019-51,LQE2019-29 | |
Hiroyuki Ishii(Furukawa Electric Co.), [Date]2019-08-22[Paper #]R2019-21,EMD2019-19,CPM2019-20,OPE2019-48,LQE2019-26 | |
Hideki Yagi(SEI), [Date]2019-08-22[Paper #]R2019-20,EMD2019-18,CPM2019-19,OPE2019-47,LQE2019-25 | |
Kenji Okada(TowerJazz Panasonic Semiconductor), [Date]2019-08-22[Paper #]R2019-25,EMD2019-23,CPM2019-24,OPE2019-52,LQE2019-30 | |
Takasumi Tanabe(Keio), Shun Fujii(Keio), Shuya Tanaka(Keio), Satoki Kawanishi(Keio), Tamiki Ohtsuka(Keio), [Date]2019-08-22[Paper #]R2019-22,EMD2019-20,CPM2019-21,OPE2019-49,LQE2019-27 | |
Takayuki Kobayashi(NTT), [Date]2019-08-22[Paper #]R2019-23,EMD2019-21,CPM2019-22,OPE2019-50,LQE2019-28 | |
Yuichiro Mitani(Toshiba Memory), Harumi Seki(Toshiba Memory), Takanori Asano(Toshiba Memory), Yasushi Nakasaki(Toshiba Memory), [Date]2019-08-22[Paper #]R2019-26,EMD2019-24,CPM2019-25,OPE2019-53,LQE2019-31 | |
Hiroshi Onaka(Fujitsu Ltd.), [Date]2019-08-22[Paper #]R2019-19,EMD2019-17,CPM2019-18,OPE2019-46,LQE2019-24 | |
Kota Shikama(NTT), Atsushi Aratake(NTT), Yasuhiro Koike(Keio Univ.), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-31,EMD2019-29,CPM2019-30,OPE2019-58,LQE2019-36 | |
Mitsuru Takenaka(Univ.Tokyo), Qiang Li(Univ.Tokyo), Naoki Sekine(Univ.Tokyo), Shinichi Takagi(Univ.Tokyo), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-28,EMD2019-26,CPM2019-27,OPE2019-55,LQE2019-33 | |
Kei Masuyama(Mitsubishi Electric Corp.), Mizuki Shirao(Mitsubishi Electric Corp.), Nobuo Ohata(Mitsubishi Electric Corp.), Nobuhiko Nishiyama(Tokyo Tech), Kiyotomo Hasegawa(Mitsubishi Electric Corp.), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-27,EMD2019-25,CPM2019-26,OPE2019-54,LQE2019-32 | |
Hiroshi Yasaka(Tohoku Univ.), Nobuhide Yokota(Tohoku Univ.), Kanno Mitsunari(Tohoku Univ.), Sato Shouta(Tohoku Univ.), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-29,EMD2019-27,CPM2019-28,OPE2019-56,LQE2019-34 | |
Takuo Tanemura(Univ. Tokyo), Shota Ishimura(Univ. Tokyo/KDDI Research), Peng Zhou(Univ. Tokyo), Takahiro Suganuma(Univ. Tokyo), Yoshiaki Nakano(Univ. Tokyo), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-30,EMD2019-28,CPM2019-29,OPE2019-57,LQE2019-35 | |
Kaoru Kuribayashi(CIT), Ryo Nagase(CIT), Satoru Wada(KURAHASHI INDUSTRIES CO.,LTD. SEISMIC INSTRUMENTS GROUP), Akio Kobayashi(TOKYO SOKUSHIN CO., LTD.), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-33,EMD2019-31,CPM2019-32,OPE2019-60,LQE2019-38 | |
Masahiro Ueno(NTT), Yuichi Akage(NTT), Souichi Oka(NTT), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-32,EMD2019-30,CPM2019-31,OPE2019-59,LQE2019-37 | |
Kentaro Matsuda(CIT), Ryo Nagase(CIT), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-35,EMD2019-33,CPM2019-34,OPE2019-62,LQE2019-40 | |
Ryota Kuramochi(CIT), Kentaro Matsuda(CIT), Ryo Nagase(CIT), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-34,EMD2019-32,CPM2019-33,OPE2019-61,LQE2019-39 | |
Katsuki Suenaga(CIT), Ryo Takahashi(CIT), Kentaro Matsuda(CIT), Ryo Nagase(CIT), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-37,EMD2019-35,CPM2019-36,OPE2019-64,LQE2019-42 | |
Yuusuke Aoki(CIT), Hiroyuki Horiki(Hyson), Ryo Nagase(CIT), [Date]2019-08-23[Paper #]R2019-36,EMD2019-34,CPM2019-35,OPE2019-63,LQE2019-41 |