エレクトロニクス-有機エレクトロニクス(開催日:2010/06/18)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2010/6/18
[資料番号]
目次

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[発表日]2010/6/18
[資料番号]
Π共役系保護基を有するAuナノ粒子を用いた二重トンネル接合の抵抗値(材料デバイスサマーミーティング)

皆川 慶嘉,  加納 伸也,  東 康男,  金原 正幸,  寺西 利治,  真島 豊,  

[発表日]2010/6/18
[資料番号]EMD2010-9,CPM2010-23,OME2010-28
ポルフィリン自己組織化単分子膜によるペンタセンTFTの接触抵抗の低減(材料デバイスサマーミーティング)

東 康男,  鈴木 太陽,  山田 泰之,  田中 健太郎,  金原 正幸,  寺西 利治,  真島 豊,  

[発表日]2010/6/18
[資料番号]EMD2010-10,CPM2010-24,OME2010-29
キラルなポリジアセチレン薄膜の作製とその重合過程の検討(材料デバイスサマーミーティング)

金 英輝,  篠 竜徳,  大嶋 優記,  間中 孝彰,  岩本 光正,  

[発表日]2010/6/18
[資料番号]EMD2010-11,CPM2010-25,OME2010-30
走査トンネル顕微鏡を用いたポルフィリン分子の電気的特性の観察(材料デバイスサマーミーティング)

加納 伸也,  皆川 慶嘉,  東 康男,  山田 泰之,  田中 健太郎,  真島 豊,  

[発表日]2010/6/18
[資料番号]EMD2010-12,CPM2010-26,OME2010-31
ガスフロースパッタ法により低温で作製したAlドープZnO薄膜の電気的・光学的性質の酸素量依存性(材料デバイスサマーミーティング)

須藤 隆吉,  近藤 祐邦,  佐久間 洋志,  石井 清,  荒巻 慶輔,  尹 〓成,  近藤 洋文,  

[発表日]2010/6/18
[資料番号]EMD2010-13,CPM2010-27,OME2010-32
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)

和田 真一,  越田 圭治,  園田 健人,  ノロブリン サインダー,  小田部 正能,  久保田 洋彰,  澤 孝一郎,  

[発表日]2010/6/18
[資料番号]EMD2010-14,CPM2010-28,OME2010-33
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)

和田 真一,  越田 圭治,  園田 健人,  ノロブリン サインダー,  小田部 正能,  久保田 洋彰,  澤 孝一郎,  

[発表日]2010/6/18
[資料番号]EMD2010-15,CPM2010-29,OME2010-34
銅箔の直接電磁圧接(材料デバイスサマーミーティング)

相沢 友勝,  杉山 善崇,  岡川 啓悟,  

[発表日]2010/6/18
[資料番号]EMD2010-16,CPM2010-30,OME2010-35
複写される方へ

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[発表日]2010/6/18
[資料番号]
奥付

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[発表日]2010/6/18
[資料番号]
裏表紙

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[発表日]2010/6/18
[資料番号]