エレクトロニクス-集積回路(開催日:2003/01/23)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2003/1/23
[資料番号]
目次

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[発表日]2003/1/23
[資料番号]
大規模システムLSIのテストコストを低減するat-speedロジックBISTアクセラレータ(LBA)

河野 一郎,  高嶺 美夫,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
ウエハレベルSRAM高速評価DFT技術

櫛田 桂一,  平林 修,  鈴木 東,  矢部 友章,  川澄 篤,  武山 泰久,  東畑 晃史,  大塚 伸朗,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現

畠山 一実,  中尾 教伸,  清重 賢一,  夏目 幸一郎,  佐藤 康夫,  南雲 宇晴,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
ナノプローブ技術を応用した4深針プローバによる単体実デバイスの電気特性評価技術

柳田 博史,  水野 貴之,  矢野 史子,  梅村 馨,  三井 泰裕,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
超高密度3次元LSI積層モジュールを実現するためのベアチップテスティング技術

谷岡 道修,  白井 優之,  小嶋 一三,  高橋 健司,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
LSI検査用の角錐状接触端子を形成した薄膜プローブの開発

春日部 進,  森 昭享,  渡部 隆好,  本山 康弘,  和田 雄二,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
[特別招待講演]電子線を用いた半導体微細寸法計測技術の進歩と将来展望

大高 正,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
レーザプロービングパッドの作り込みによるLSI内部動作解析

真田 克,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
レイアウトからの逐次回路抽出によるSoCの故障追跡 : バウンダリスキャン設計IPの故障追跡

三浦 克介,  中前 幸治,  藤岡 弘,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
擬似発光/SSRMを用いた微細SRAMセルの欠陥位置特定

石井 達也,  池田 洋直,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
高感度裏面エミッション検出によるウエハレベル故障分布解析

吉田 岳司,  小野山 歩,  小山 徹,  小守 純子,  益子 洋治,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
アレイアンテナを用いたRF周波数誤差除去方式による高速移動体向けOFDM受信機の性能向上に関する一検討

山崎 和美,  金田 喜共,  前原 崇章,  和田 知久,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
デバイス開発へのデータマイニングの適用

津田 英隆,  白井 英大,  高木 治,  

[発表日]2003/1/23
[資料番号]
複写される方へ

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[発表日]2003/1/23
[資料番号]
奥付

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[発表日]2003/1/23
[資料番号]