エレクトロニクス-集積回路(開催日：1993/12/16)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]1993/12/16
[資料番号]
目次

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[発表日]1993/12/16
[資料番号]
VLSIテスティングコスト低減のアプローチ

濁川 篤,  松岡 栄樹,  半内 誠一,  難波 靖弘,  

[発表日]1993/12/16
[資料番号]ICD93-147
超高速EOSウエハプローバによる集積回路内部診断

品川 満,  永妻 忠夫,  

[発表日]1993/12/16
[資料番号]ICD93-148
32ビットマイクロコントローラにおけるテスト容易化設計の一手法

前田 俊則,  三宅 二郎,  植田 雅彦,  三好 明,  西道 佳人,  西山 保,  

[発表日]1993/12/16
[資料番号]ICD93-149
短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト

樋上 善信,  梶原 誠司,  樹下 行三,  

[発表日]1993/12/16
[資料番号]ICD93-150
再収斂に着目したパーシャルスキャン手法

尾野 年信 /,  

[発表日]1993/12/16
[資料番号]ICD93-151
ファインパッドピッチ化に伴う適正パッド構造の検討

豊沢 健司,  藤田 和弥,  前田 崇道,  

[発表日]1993/12/16
[資料番号]ICD93-152
インダクタンス計算による△Iノイズの特性検討

三浦 正幸,  平野 尚彦,  蛭田 陽一,  須藤 俊夫,  

[発表日]1993/12/16
[資料番号]ICD93-153
[OTHERS]

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[発表日]1993/12/16
[資料番号]