エレクトロニクス-機構デバイス(開催日：2011/02/11)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2011/2/11
[資料番号]
目次

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[発表日]2011/2/11
[資料番号]
電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

玉井 輝雄,  澤田 滋,  服部 康弘,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-42,EMD2010-143
発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

筑地 茂樹,  澤田 滋,  玉井 輝雄,  服部 康弘,  飯田 和生,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-43,EMD2010-144
揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

長谷川 誠,  小林 菜々絵,  河野 良行,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-44,EMD2010-145
開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

山梨 洋平,  宮司 勝吉,  関川 純哉,  窪野 隆能,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-45,EMD2010-146
I_を用いたLSIの劣化兆候の検出(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

坂本 俊輔,  眞田 克,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-46,EMD2010-147
開放故障に伴う不安定論理の固定化(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

安富 泰輝,  眞田 克,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-47,EMD2010-148
初期故障率に基づく電子部品の統計的品質管理(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

松岡 敏成,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-48,EMD2010-149
定量位相差顕微鏡を用いた発熱計測技術の開発(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

中村 共則,  岩井 秀直,  山内 豊彦,  寺田 浩敏,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-49,EMD2010-150
Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)

伊藤 貞則,  鈴木 雅史,  

[発表日]2011/2/11
[資料番号]R2010-50,EMD2010-151
複写される方へ

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[発表日]2011/2/11
[資料番号]
奥付

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[発表日]2011/2/11
[資料番号]
裏表紙

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[発表日]2011/2/11
[資料番号]