エレクトロニクス-機構デバイス(開催日：2010/02/12)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2010/2/12
[資料番号]
目次

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[発表日]2010/2/12
[資料番号]
Note

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[発表日]2010/2/12
[資料番号]
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その7)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

和田 真一,  越田 圭治,  園田 健人,  ノロブリン サインダー,  菊地 光男,  久保田 洋彰,  澤 孝一郎,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-50,EMD2009-117
機構デバイスにおける気密性の向上の検討 : 狭ギャップにおける液状エポキシ樹脂の挙動(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

大谷 修,  中島 誠二,  福原 智博,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-51,EMD2009-118
リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討(その3)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

長谷川 誠,  河野 良行,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-52,EMD2009-119
摂動遮断法による光ビームプロファイラ(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

斧田 誠一,  井上 恵一,  会田 浩二,  中野 正行,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-53,EMD2009-120
参照BOFによるBOF/DWPR温度計測の高精度化(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

小松 康俊,  永井 竜二,  井上 恵一,  斧田 誠一,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-54,EMD2009-121
カット集合を用いた優先ANDゲートを含むフォールトツリーの解析(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

米田 泰司郎,  弓削 哲史,  田村 信幸,  柳 繁,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-55,EMD2009-122
自動車用錫めっきのスライディングにおける初期摩耗状態観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

澤田 滋,  玉井 輝雄,  服部 康弘,  飯田 和生,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-56,EMD2009-123
錫(Sn)めっきコネクタの接触面に大気中高温下で成長する酸化皮膜の物理的特徴とその接触抵抗への影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

鍋田 佑也,  澤田 滋,  齋藤 寧,  清水 敦,  服部 康弘,  玉井 輝雄,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-57,EMD2009-124
毛髪銀の生成伸長一考察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

伊藤 貞則,  佐々木 孝文,  山口 博己,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-58,EMD2009-125
液体金属を用いたSn酸化被膜の電気的性質の測定(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

米川 智貴,  齋藤 寧,  飯田 和生,  澤田 滋,  服部 康弘,  

[発表日]2010/2/12
[資料番号]R2009-59,EMD2009-126
複写される方へ

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[発表日]2010/2/12
[資料番号]
奥付

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[発表日]2010/2/12
[資料番号]
裏表紙

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[発表日]2010/2/12
[資料番号]