エレクトロニクス-機構デバイス(開催日：2008/02/08)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2008/2/8
[資料番号]
目次

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[発表日]2008/2/8
[資料番号]
簡易ESD装置の開発とその適用検討 : ESD破壊現象の特定(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

山崎 規雄,  真田 克,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-59,EMD2007-114
無給電光伝送装置の信頼性設計と応用(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

鳥羽 良和,  若井 一顕,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-60,EMD2007-115
接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 : 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

玉井 輝雄,  服部 康弘,  池田 博榮,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-61,EMD2007-116
3次元加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振装置試作(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

和田 真一,  天尾 裕士,  峯岸 寛人,  越田 圭治,  園田 健人,  菊地 光男,  久保田 洋彰,  澤 孝一郎,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-62,EMD2007-117
Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

中村 真也,  山下 祐司,  齋藤 寧,  玉井 輝雄,  飯田 和生,  服部 康弘,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-63,EMD2007-118
微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

佐藤 尚幸,  齋藤 寧,  玉井 輝雄,  飯田 和生,  伊藤 哲也,  服部 康弘,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-64,EMD2007-119
全反射終端を用いた2波長プッシュプル反射計測方式(DWPR)の高精度化(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

小松 康俊,  井上 恵一,  斧田 誠一,  塚本 信夫,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-65,EMD2007-120
気密封止材料の基礎特性について : ガス透過性についての調査(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

早瀬 哲生,  坂本 一三,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-66,EMD2007-121
瞬間接着剤を用いた光コネクタの信頼性(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

柳 秀一,  松井 伸介,  細野 茂,  長瀬 亮,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-67,EMD2007-122
ホログラフィとその機構デバイスの信頼性評価への応用(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

谷口 正成,  

[発表日]2008/2/8
[資料番号]R2007-68,EMD2007-123
複写される方へ

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[発表日]2008/2/8
[資料番号]
Notice for Photocopying

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[発表日]2008/2/8
[資料番号]
奥付

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[発表日]2008/2/8
[資料番号]