エレクトロニクス-機構デバイス(開催日：2000/12/08)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2000/12/8
[資料番号]
目次

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[発表日]2000/12/8
[資料番号]
メトリック実装サブラックにおけるシールド構造とその特性

横山 隆造,  松本 昇司,  笹島 正夫,  兼山 文泰,  藤原 雄彦,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-73
通信用サブラックのシールド対策の研究

松田 至,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-74
配線基板用材料の高速化対応と開発動向

佐瀬 茂雄,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-75
ビアフィル法による高密度ビルドアップサブストレートの作製

中村 高士,  浜田 哲郎,  大久保 利一,  石井 俊明,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-76
コンタクトの耐衝撃についての一考察

渡邉 慎司,  高橋 健一,  上嶋 仁,  大西 浩二,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-77
高速伝送コネクタに関する一考察

長瀬 守,  淀川 昭洋 /,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-78
Arcing and its subsequent degradations on the contact material of automotive power relays and switches : material transfer

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[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-79
接触電圧降下におよぼす周囲気体の影響についての一検討

上野 貴博,  沢 孝一郎,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-80
窒素雰囲気中におけるAg、Pd、Cu接点の動作特性に関する実験

牧元 次郎,  長谷川 誠,  沢 孝一郎,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-81
AgCdとAgSn合金の小数回開離時アーク放電における電極損傷の観測

井上 浩,  高橋 優樹,  山本 学,  

[発表日]2000/12/8
[資料番号]EMD2000-82
[OTHERS]

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[発表日]2000/12/8
[資料番号]