エレクトロニクス-電子デバイス(開催日：2003/08/21)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]2003/8/21
[資料番号]
目次

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[発表日]2003/8/21
[資料番号]
ドミネーションを用いたFTの頂上事象確率算出について(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

田上 和寛,  弓削 哲史,  柳 繁,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-28,ED2003-106
自己診断のない安全関連系の状態遷移モデル(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

下平 庸晴,  佐藤 吉信,  陶山 貢市,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-29,ED2003-107
安全関連系の作動要求時機能失敗確率の計算法(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

武田 勇,  下平 庸晴,  陶山 貢市,  佐藤 吉信,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-30,ED2003-108
修理と取り替えを考慮したマルコフ的劣化モデルに対する最適点検政策(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

田村 信幸,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-31,ED2003-109
市場型サービスのシステム信頼性構造とモデル化について(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

益田 昭彦,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-32,ED2003-110
離散時間動作環境における周期的ソフトウェア若化スケジュールの推定(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

岩本 一樹,  土肥 正,  海生 直人,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-33,ED2003-111
動的捕獲再捕獲法によるソフトウェア信頼度の推定(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

岡村 寛之,  村上 崇康,  土肥 正,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-34,ED2003-112
[特別講演]光デバイスの信頼性と劣化機構 : 結晶・界面制御とデバイス信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

上田 修,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-35,ED2003-113
InP HEMTのドレイン抵抗変化のバイアス依存性と回路の信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

深井 佳乃,  杉谷 末広,  榎木 孝知,  北林 博人,  村田 浩一,  牧村 隆司,  山根 康朗,  村口 正弘,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-36,ED2003-114
InPパッシベーション構造InGaAs/InP HBTの信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

山日 竜二,  小谷 謙司,  川崎 健,  柳沢 昌輝,  八重樫 誠司,  矢野 浩,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-37,ED2003-115
AlGaAs/InGaAs PHEMTの大信号動作時の劣化機構 : 高電界による半導体表面劣化(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

日坂 隆行,  野上 洋一,  佐々木 肇,  蓮池 篤,  吉田 直人,  林 一夫,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-38,ED2003-116
n-InP基板に対するAl-Mo合金電極のオーミックコンタクト機構(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

武山 真弓,  野矢 厚,  橋詰 保,  長谷川 英機,  

[発表日]2003/8/21
[資料番号]R2003-39,ED2003-117
奥付

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[発表日]2003/8/21
[資料番号]
複写される方へ

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[発表日]2003/8/21
[資料番号]