エレクトロニクス-電子部品・材料(開催日:1995/08/04)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]1995/8/4
[資料番号]
目次

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[発表日]1995/8/4
[資料番号]
シリコンウェハの直接貼り合わせ接合

明瀬 克則,  遠藤 敏明,  福田 永,  野村 滋,  葛西 浩孝,  

[発表日]1995/8/4
[資料番号]
GaAs等の化合物半導体表面のよう素処理の効果

橋本 佳男,  櫻井 純一,  伊東 謙太郎,  

[発表日]1995/8/4
[資料番号]
Ta/Si系におけるシリサイド形成過程の検討

野矢 厚,  武山 真弓,  佐々木 克孝,  青柳 英二,  平賀 二,  

[発表日]1995/8/4
[資料番号]
酸窒化極薄シリコン酸化膜の成長機構

小山 登,  遠藤 敏明,  福田 永,  野村 滋,  石塚 研次,  

[発表日]1995/8/4
[資料番号]
Al-Y合金薄膜表面酸化層のキャラクタリゼーション

村上 佳隆,  武山 真弓,  野矢 厚,  佐々木 克孝,  

[発表日]1995/8/4
[資料番号]
酸素含有カーボンスパッタ薄膜の諸特性

星 陽一,  鈴木 敦,  Judy H. Jack,  

[発表日]1995/8/4
[資料番号]
ボルタンメトリーによるフラーレン薄膜の評価

吉山 信成,  遠藤 拓,  山本 寛,  

[発表日]1995/8/4
[資料番号]
[OTHERS]

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[発表日]1995/8/4
[資料番号]