エレクトロニクス-電子部品・材料(開催日：1994/05/19)

タイトル/著者/発表日/資料番号
表紙

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[発表日]1994/5/19
[資料番号]
目次

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[発表日]1994/5/19
[資料番号]
オージェ電子分光を用いたCu/Ta_2Al/Ta/Siコンタクト構造の熱的安定性の検討

太田 陽,  野矢 厚,  武山 眞弓,  佐々木 克孝,  田口 雅裕,  

[発表日]1994/5/19
[資料番号]CPM94-1
全反射蛍光X線分析法による表面汚染元素の超高感度評価

宮崎 邦浩,  嶋崎 綾子,  

[発表日]1994/5/19
[資料番号]CPM94-2
高エネルギーX線による蛍光X線分析 : 200kV高電圧W白色X線を用いた蛍光K線による重元素の蛍光X線分析

高橋 晴彦,  山本 一樹,  大嶋 健一,  岡村 富士夫,  

[発表日]1994/5/19
[資料番号]CPM94-3
Al-Si-Cu半導体超LSI電極スパッタリング膜の〈111〉結晶軸配向性

奥田 智久,  品田 清隆,  原 徹,  木野 幸浩,  佐藤 貴久,  堀 俊彦,  長野 昌三,  上田 忠雄,  

[発表日]1994/5/19
[資料番号]CPM94-4
酸化物超伝導薄膜のエピタキシャル成長に適した新素材基板材料へのコメント

森下 忠隆,  大石 朗,  

[発表日]1994/5/19
[資料番号]CPM94-5
新しい半導体材料高濃度イオンビーム不純物導入技術と非熱平衡材料の創製(SiGeC)

牧田 雄之助,  柴田 肇,  山田 昭政,  

[発表日]1994/5/19
[資料番号]CPM94-6
極超短波長X線回折法によるC(ダイヤモンド)、Si、Ge、Fe_3O_4などの電子密度分布解析

岡村 富士夫,  雪野 健,  山本 一樹,  大嶋 健一,  木野 幸浩,  

[発表日]1994/5/19
[資料番号]CPM94-7
[OTHERS]

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[発表日]1994/5/19
[資料番号]