基礎・境界/NOLTA-VLSI設計技術(開催日：2012/11/19)

タイトル/著者/発表日/資料番号
陽的かつ無条件安定な手法による電源分配回路網の高速過渡解析(電力解析,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

西崎 統大,  關根 惟敏,  浅井 秀樹,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-97,DC2012-63
仮想グランド線電圧の自動検出による細粒度パワーゲーティング制御(電力解析,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

工藤 優,  宇佐美 公良,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-98,DC2012-64
超低電圧動作に向けたプロセッシングエレメントの消費エネルギーの実測と解析(ディペンダブル設計(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

安西 祥生,  工藤 優,  太田 裕也,  太田 一輝,  宇佐美 公良,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-99,DC2012-65
中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定(ディペンダブル設計(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

原田 諒,  密山 幸男,  橋本 昌宜,  尾上 孝雄,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-100,DC2012-66
フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

津森 渉,  三宅 庸資,  佐藤 康夫,  梶原 誠司,  三浦 幸也,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-101,DC2012-67
マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

王 森レイ,  佐藤 康夫,  梶原 誠司,  宮瀬 紘平,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-102,DC2012-68
遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

若杉 諒介,  細川 利典,  吉村 正義,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-103,DC2012-69
ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

宮瀬 紘平,  梶原 誠司,  温 暁青,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-104,DC2012-70
テスト圧縮効率化のためのテスト生成に関する一考察(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

楠山 友紀乃,  山崎 達也,  細川 利典,  吉村 正義,  山崎 浩二,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-105,DC2012-71
桁上げ生成二重化によるフォールトセキュアな並列プレフィックス加算器の構成法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)

鬼頭 信貴,  高木 直史,  

[発表日]2012/11/19
[資料番号]VLD2012-106,DC2012-72
複写される方へ

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[発表日]2012/11/19
[資料番号]
Notice for Photocopying

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[発表日]2012/11/19
[資料番号]
奥付

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[発表日]2012/11/19
[資料番号]
裏表紙

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[発表日]2012/11/19
[資料番号]
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