基礎・境界/NOLTA-VLSI設計技術(開催日:2000/11/23)

タイトル/著者/発表日/資料番号
レイアウトからの逐次回路抽出によるEB自動故障追跡法

三浦 克介,  中前 幸治,  藤岡 弘,  

[発表日]2000/11/23
[資料番号]VLD2000-107,ICD2000-164,FTS2000-72
BIST指向 n検出 TPGの提案

市野 憲一,  斎藤 貴之,  浅川 毅,  福本 聡,  岩崎 一彦,  梶原 誠司,  

[発表日]2000/11/23
[資料番号]VLD2000-108,ICD2000-165,FTS2000-73
強可検査性に基づくテスト容易化高位合成

和田 弘樹,  増澤 利光,  藤原 秀雄,  

[発表日]2000/11/23
[資料番号]VLD2000-109,ICD2000-166,FTS2000-74
連続可検査性に基づくコアベース・システムオンチップのテスト容易化設計法

米田 友和,  藤原 秀雄,  

[発表日]2000/11/23
[資料番号]VLD2000-110,ICD2000-167,FTS2000-75
[OTHERS]

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[発表日]2000/11/23
[資料番号]
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