情報・システム-画像工学(開催日：2016/08/01)

タイトル/著者/発表日/資料番号
線幅2nmの超微細シリコンナノワイヤトランジスタにおけるDIBLばらつきおよびデバイス内ばらつき

水谷 朋子(東大),  竹内 潔(東大),  鈴木 龍太(東大),  更屋 拓哉(東大),  小林 正治(東大),  平本 俊郎(東大),  

[発表日]2016-08-03
[資料番号]SDM2016-67,ICD2016-35
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