エレクトロニクス-集積回路(開催日:2015/12/17)

タイトル/著者/発表日/資料番号
40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化

大島 梓(京都工繊大),  Pieter Weckx(IMEC),  Ben Kaczer(IMEC),  松本 高士(東大),  小林 和淑(京都工繊大),  小野寺 秀俊(京大),  

[発表日]2015-12-17
[資料番号]ICD2015-63,CPSY2015-76
[ポスター講演]40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化

大島 梓(京都工繊大),  Pieter Weckx(IMEC),  Ben Kaczer(IMEC),  松本 高士(東大),  小林 和淑(京都工繊大),  小野寺 秀俊(京大),  

[発表日]2015-12-17
[資料番号]
統計的コンパレータを用いたアナログ-ディジタル変換回路の性能解析

モハンマド マルフ ホサイン(東大),  飯塚 哲也(東大),  名倉 徹(東大),  浅田 邦博(東大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-93,CPSY2015-106
バッファリングを利用した出力ドリフト補正が不要な時間領域アナログ信号積分器

矢野 智比古(東大),  名倉 徹(東大),  飯塚 哲也(東大),  浅田 邦博(東大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-94,CPSY2015-107
[招待講演]GaNパワーデバイスとGaN集積回路の展開

永井 秀一(パナソニック),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-86,CPSY2015-99
HPCネットワーク用ランダムトポロジ向けの低遅延な分散ルーティング手法

河野 隆太(慶大),  中原 浩(慶大),  藤原 一毅(NII),  松谷 宏紀(慶大),  天野 英晴(慶大),  鯉渕 道紘(NII),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-90,CPSY2015-103
Hill-Climbing法を用いたパルス幅制御PLLのPVTばらつきへの自動適応

都井 敬(東大),  名倉 徹(東大),  飯塚 哲也(東大),  浅田 邦博(東大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-95,CPSY2015-108
[招待講演]集積回路におけるソフトエラーの評価と対策

古田 潤(京都工繊大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-87,CPSY2015-100
超低電力再構成可能アクセラレータCCSOTBの実装と評価

増山 滉一朗(慶大),  藤田 悠(慶大),  奥原 颯(慶大),  天野 英晴(慶大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-89,CPSY2015-102
PEACH2を用いた重力計算アプリケーションにおけるFPGA/GPU協調動作

鶴田 千晴(慶大),  金田 隆大(慶大),  三木 洋平(筑波大),  天野 英晴(慶大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-92,CPSY2015-105
電力のモデル式に基づく汎用CPUの電力最適化

奥原 颯(慶大),  藤田 悠(慶大),  北森 邦明(慶大),  宇佐美 公良(芝浦工大),  天野 英晴(慶大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-88,CPSY2015-101
三次元積層チップにおける最大配線長制限下トポロジ最適化

中原 浩(慶大),  藤木 大地(慶大),  蓼 誠一(慶大),  安戸 僚汰(慶大),  河野 隆太(慶大),  松谷 宏紀(慶大),  鯉渕 道紘(NII),  中野 浩嗣(広島大),  天野 英晴(慶大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-91,CPSY2015-104
[招待講演]半導体ベンチャーを作って退くまで

瀧 和男(神戸大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-85,CPSY2015-98
65nmバルクとThin BOX FD-SOIプロセスにおける冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価

曽根崎 詠二(京都工繊大),  久保田 勘人(京都工繊大),  増田 政基(京都工繊大),  神田 翔平(京都工繊大),  古田 潤(京都工繊大),  小林 和淑(京都工繊大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-83,CPSY2015-96
Substrate Noise Isolation Improvement by Helium-3 Ion Irradiation Technique in a Triple-well CMOS Process

李 寧(東工大),  井上 剛(住重試験検査),  平野 拓一(東工大),  ポアン 健(東工大),  呉 ルイ(東工大),  岡田 健一(東工大),  坂根 仁(住重試験検査),  松澤 昭(東工大),  

[発表日]2015-12-18
[資料番号]ICD2015-84,CPSY2015-97
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