エレクトロニクス-集積回路(開催日：2007/01/11)

タイトル/著者/発表日/資料番号
抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)

三浦 克介,  中前 幸治,  

[発表日]2007/1/11
[資料番号]CPM2006-147,ICD2006-189
低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)

塔ノ上 義章,  温 暁青,  梶原 誠司,  宮瀬 紘平,  鈴木 達也,  大和 勇太,  

[発表日]2007/1/11
[資料番号]CPM2006-148,ICD2006-190
スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)

新井 雅之,  福本 聡,  岩崎 一彦,  松尾 達,  平出 貴久,  小西 秀明,  江守 道明,  相京 隆,  

[発表日]2007/1/11
[資料番号]CPM2006-149,ICD2006-191
アナログ回路の故障パラメータ解法の検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)

久慈 憲夫,  

[発表日]2007/1/11
[資料番号]CPM2006-150,ICD2006-192
集積化RF-MEMSとその実装技術(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)

桑原 啓,  佐藤 昇男,  町田 克之,  石井 仁,  川島 宗也,  山口 陽,  上原 一浩,  

[発表日]2007/1/11
[資料番号]CPM2006-151,ICD2006-193
基板電源層構成のLSI同時スイッチングノイズ(SSN)とEMIへ及ぼす影響(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)

串平 孝信,  須藤 俊夫,  

[発表日]2007/1/11
[資料番号]CPM2006-152,ICD2006-194
極薄絶縁層とEBG構造の組合せによる広帯域電源デカップリング特性(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)

一條 清壽,  串平 孝信,  須藤 俊夫,  

[発表日]2007/1/11
[資料番号]CPM2006-153,ICD2006-195
垂直差分方式とデータ配列変換をLVDS (low voltage differential signal)伝送に適用したEMI低減技術(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)

高木 亜矢子,  馬場 雅裕,  奥村 治彦,  

[発表日]2007/1/11
[資料番号]CPM2006-154,ICD2006-196
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[発表日]2007/1/11
[資料番号]
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[発表日]2007/1/11
[資料番号]
奥付

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[発表日]2007/1/11
[資料番号]
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