| 大会名称 |
|---|
| 2010年 情報科学技術フォーラム(FIT) |
| 大会コ－ド |
| F |
| 開催年 |
| 2010 |
| 発行日 |
| 2010/8/20 |
| セッション番号 |
| 4R |
| セッション名 |
| ディベンダブルシステム |
| 講演日 |
| 2010/09/08 |
| 講演場所(会議室等) |
| R会場（ウエスト2号館3F 第6講義室） |
| 講演番号 |
| RC-010 |
| タイトル |
| 組込み自己テストにおける救済可能テスト生成器 |
| 著者名 |
| 志水 昂, 深澤 祐樹, 吉川 祐樹, 市原 英行, 井上 智生, |
| キーワード |
| BIST, 待機冗長システム, 信頼性, LFSR, 線形符号, 救済 |
| 抄録 |
|
LSIの大規模化によりBIST回路の故障も無視できなくなっている． BIST回路が故障すると歩留まりの低下や市場不良などの点で問題となる． 本論文ではBIST回路におけるテスト生成器に着目し， テスト生成器に耐故障性を持たせた救済可能テスト生成器を提案する． これにより故障していない被テスト回路を故障していると誤判定する可能性が減るため歩留まりの向上や， 故障している被テスト回路を故障していないと誤判定する可能性も減るため，市場不良の減少も期待できる． また，救済機能の有効性を考察するために，救済可能テスト生成器の信頼性モデルを提案する． 実験では救済可能テスト生成器の面積，故障検出能力，信頼性について調べ，このテスト生成器の有効性を示す． |
| 本文pdf |
| PDF download (395.8KB) |