| 大会名称 |
|---|
| 2009年 情報科学技術フォーラム(FIT) |
| 大会コ－ド |
| F |
| 開催年 |
| 2009 |
| 発行日 |
| 2009/8/20 |
| セッション番号 |
| 5J |
| セッション名 |
| 画像特徴 |
| 講演日 |
| 2009/09/03 |
| 講演場所(会議室等) |
| J会場（9号館2F 924教室） |
| 講演番号 |
| H-049 |
| タイトル |
| 校正制御点近傍のSIFT特徴を用いるカメラパラメータ推定法 |
| 著者名 |
| 三須 俊枝, 藤井 真人, 柴田 正啓, |
| キーワード |
| カメラパラメータ, SIFT, 透視4点問題, RANSAC, カメラ校正, ランドマーク |
| 抄録 |
| 世界座標既知の制御点とは独立に視覚的な特徴点を配置することで、無特徴の制御点でも動作するカメラ校正法を提案する。まず、登録フェーズでは、特徴抽出領域と、制御点の画像座標・世界座標を指定する。特徴抽出領域からSIFT特徴を求め、制御点の画像座標・世界座標、特徴点のSIFT特徴（幾何情報・記述子）からなる組をデータベース（DB）に登録する。一方、推定フェーズでは、入力画像からSIFT特徴を求め、DB内の記述子との比較により対応付けを行う。対応特徴点対に関する相対的な幾何情報に基づき、制御点画像座標を推定する。この画像座標とDB内の世界座標の対に基づき透視4点問題を解き、カメラパラメータを算出する。 |
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