| 大会名称 |
|---|
| 2009年 情報科学技術フォーラム(FIT) |
| 大会コ－ド |
| F |
| 開催年 |
| 2009 |
| 発行日 |
| 2009/8/20 |
| セッション番号 |
| 1C |
| セッション名 |
| システムLSI設計技術 |
| 講演日 |
| 2009/09/02 |
| 講演場所(会議室等) |
| C会場（9号館1F 913教室） |
| 講演番号 |
| C-012 |
| タイトル |
| ポストシリコンデバッグにおける観測および制御回路挿入に関する一検討 |
| 著者名 |
| 田畑 嘉裕, 新井 雅之, 岩崎 一彦, 正田 剛史, |
| キーワード |
| ポストシリコンデバッグ, シリコン検証, アサーションベースデバッグ |
| 抄録 |
| 半導体の微細化および高集積化に伴い,設計段階での完全な機能バグの排除は困難となりつつある.そこで,あらかじめチップ内に観測および制御回路を挿入し,これらの回路を用いて試作チップ上でデバッグを行うポストシリコンデバッグが注目されている.効率的なポストシリコンデバッグのためには,観測および制御回路の挿入箇所の選択が重要である.本研究では,ポストシリコンデバッグにおける観測および制御回路の挿入について検討する.プロセッサ回路のRTL記述に対してデバッグ用回路を挿入し,FPGAを用いた実機検証によってそのデバッグの容易性を評価する. |
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