| 大会名称 |
|---|
| 2016年 ソサイエティ大会 |
| 大会コ－ド |
| 2016S |
| 開催年 |
| 2016 |
| 発行日 |
| 2016-09-06 |
| セッション番号 |
| A-7 |
| セッション名 |
| 情報セキュリティ |
| 講演日 |
| 2016/9/21 |
| 講演場所(会議室等) |
| 工学部 C棟 C206 |
| 講演番号 |
| A-7-10 |
| タイトル |
| レーザー照射と電力解析によるメモリ読出し値の抽出 |
| 著者名 |
| ◎坂本純一, 藤本大介, 松本 勉, |
| キーワード |
| レーザー, サイドチャネル攻撃, 故障利用攻撃, flash |
| 抄録 |
| レーザー照射及び電力解析を用いて，フラッシュROMから読出されている値を抽出する手法を提案する．既存研究においてレーザー照射と電力解析を組み合わせて電力波形からSRAM セルに保持されている値を取得する手法が提案されているが，この手法はSRAM セル内の特定のトランジスタにレーザーを照射しなければならず，また照射したセルの1ビットしか取得できないため攻撃には大きなコストが必要であった．そこで著者らは，メモリセルよりむしろ読み出しセンスアンプにレーザー照射を行うことで複数のビットを取得できないかと考えた．実験により，提案手法によってROMからフェッチされるプログラムを抽出できることを示す． |
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