| 大会名称 |
|---|
| 2016年 ソサイエティ大会 |
| 大会コ－ド |
| 2016S |
| 開催年 |
| 2016 |
| 発行日 |
| 2016-09-06 |
| セッション番号 |
| A-6 |
| セッション名 |
| VLSI設計技術 |
| 講演日 |
| 2016/9/20 |
| 講演場所(会議室等) |
| 工学部 C棟 C209 |
| 講演番号 |
| A-6-6 |
| タイトル |
| 電力解析攻撃/故障利用攻撃耐性 RSA 復号回路の高位合成 |
| 著者名 |
| ◎太田小百合, 石浦菜岐佐, 由良 駿, |
| キーワード |
| 高位合成, RSA暗号, サイドチャネル攻撃 |
| 抄録 |
| 近年増加する M2M 機器に暗号化機能を実装する場合, 厳しい消費電力制約を満たすために, その処理のハードウェア化が一つの選択肢になる.過去の研究では, 高位合成により RSA 暗号処理回路を設計しているが, セキュリティ確保のためには, サイドチャネル攻撃への対策も必須となる. 本稿では, 冪剰余アルゴリズムに基づき, 電力解析攻撃と故障利用攻撃に耐性のある RSA 復号回路を高位合成により設計する手法を提案する. |
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