| 大会名称 |
|---|
| 1996年 総合大会 |
| 大会コ－ド |
| 1996G |
| 開催年 |
| 1996 |
| 発行日 |
| 1996-03-11 |
| 講演日 |
| 講演場所(会議室等) |
| 講演番号 |
| 4 |
| タイトル |
| マルチプロジェクトチップの試作 |
| 著者名 |
| 家田 信明, |
| キーワード |
| 抄録 |
| 大学を対象としたLSIの設計・試作の2回目の試行実験がH7年度に企画され、昨年に続いてNEL社が試作を請け負うこととなった。今回は領域を拡大し、フルカスタム14品種とゲートアレイ4品種の試作を進めることとなった。ゲートアレイは昨年と同様の0.5ミクロンルールBiCMOSのSOGタイプ50KGゲートアレイを用いて試作を行い、フルカスタムについてはアナログも可能なCMOS技術を用いて試作を行った。以下にその概要を記す。 |
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