2017年 総合大会

講演番号 題目/著者
D-10-1機能構造テスト系列圧縮に対する系列分割条件

◎原　一彰,  山口賢一,  

D-10-2非同期スキャン設計で用いるテスト時間を削減する新たなスキャンC素子の考案

◎石坂　守,  山口賢一,  岩田大志,  

D-10-3マルチコアシステムのマルコフモデルによる信頼性評価

◎和島純也,  金本俊幾,  黒川　敦,  今井　雅,  

D-10-4回路の階層構造を利用したアナログ集積回路のための効率的テスト生成

○宮澤悠一,  小松　聡,  

D-10-5IDDT出現時間差を用いる検査法のための低遷移パターンの故障検出率調査

◎神原東風,  四柳浩之,  橋爪正樹,  

D-10-6ネットワークプリンタ間の自律型交渉による負荷分散に関する研究

◎江島康輔,  臼杵　潤,