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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC)  (2017年度)

専門委員長 高橋 寛 (愛媛大)  副委員長 土屋 達弘 (阪大)
幹事 新井 雅之 (日大), 難波 一輝 (千葉大)

「from:2018-02-20 to:2018-02-20」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2018-02-20
09:30
東京 機械振興会館 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察
新井雅之日大)・岩崎一彦首都大東京DC2017-77
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている.著者らは,... [more] DC2017-77
pp.1-6
DC 2018-02-20
09:55
東京 機械振興会館 コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法
竹内勇希武田 俊細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2017-78
VLSIのテストコストを削減するためには,テストパターン数を削減することが必要である.特に動的テスト圧縮の効率を高めるた... [more] DC2017-78
pp.7-12
DC 2018-02-20
10:35
東京 機械振興会館 TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減
平井智士四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2017-79
3次元積層ICにおけるダイ間配線の新しい実装方法として,TSV(Through-Silicon-Via)が注目されている... [more] DC2017-79
pp.13-18
DC 2018-02-20
11:00
東京 機械振興会館 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大DC2017-80
LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] DC2017-80
pp.19-24
DC 2018-02-20
11:40
東京 機械振興会館 kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法
木下湧矢細川利典日大)・藤原秀雄阪学院大DC2017-81
半導体集積技術の発達に伴い,VLSIの大規模化,複雑化が急速に進んでいる.これに伴い,効率の良い順序回路のテスト生成技術... [more] DC2017-81
pp.25-30
DC 2018-02-20
12:05
東京 機械振興会館 焼きなまし法によるロケーティングアレイの生成
小西達也小島英春中川博之土屋達弘阪大DC2017-82
組み合わせテストは, 効率的なソフトウェアテスト手法の1 つである. 本論文では, 組み合わせテストで使用するテストケー... [more] DC2017-82
pp.31-35
DC 2018-02-20
14:00
東京 機械振興会館 アドホックネットワークにおけるステートレスな回避ルーティングに関する一考察
前田智徳酒井和哉福本 聡首都大東京DC2017-83
 [more] DC2017-83
pp.37-42
DC 2018-02-20
14:25
東京 機械振興会館 A Golden-Free Hardware Trojan Detection Technique Considering Intra-Die Variation
Fakir Sharif HossainTomokazu YonedaMichihiro ShintaniMichiko InoueNAIST)・Alex OrailogluUniv. of California, San DiegoDC2017-84
High detection sensitivity in the presence of process variat... [more] DC2017-84
pp.43-48
DC 2018-02-20
15:05
東京 機械振興会館 デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法
井上賢二三宅庸資梶原誠司九工大DC2017-85
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため,リングオシレータ(RO:Ring Oscillator)を用いたデジタ... [more] DC2017-85
pp.49-54
DC 2018-02-20
15:30
東京 機械振興会館 LUT構造を考慮したFPGAの特性ばらつきの測定方法の検討
佐藤晃平三浦幸也首都大東京DC2017-86
FPGA(Field Programmable Gate Array)とは,ユーザが任意の論理機能に何度も書き換えて実装... [more] DC2017-86
pp.55-60
DC 2018-02-20
16:10
東京 機械振興会館 メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法
王 森レイ小川達也樋上喜信高橋 寛愛媛大)・佐藤正幸勝 満徳TRL)・関口象一太陽誘電DC2017-87
MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT(Multipl... [more] DC2017-87
pp.61-66
DC 2018-02-20
16:35
東京 機械振興会館 電源ノイズによるフリップフロップ回路の動作への影響とその対策の提案
井上美優紀三浦幸也首都大東京DC2017-88
近年,VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い,IR-dropのような電源ノイズによる回路動作への影響が問題となってい... [more] DC2017-88
pp.67-72
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