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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC)  (2016年度)

専門委員長 土屋 達弘 (阪大)  副委員長 細川 利典 (日大)
幹事 新井 雅之 (日大), 難波 一輝 (千葉大)

「from:2017-02-21 to:2017-02-21」による検索結果

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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2017-02-21
10:30
東京 機械振興会館 キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法
細川利典平井淳士山崎紘史新井雅之日大DC2016-74
実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし,歩... [more] DC2016-74
pp.1-6
DC 2017-02-21
10:55
東京 機械振興会館 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究
宮瀬紘平濱崎機一九工大)・ザウアー マティアスフライブルク大)・ポリアン イリアパッサウ大)・ベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2016-75
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている.今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし,低消費電... [more] DC2016-75
pp.7-10
DC 2017-02-21
11:35
東京 機械振興会館 論理回路の組込み自己診断に関する提案
香川敬祐矢野郁也王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・大竹哲史大分大DC2016-76
近年,自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している.自動車の機能安全を保証するためには,フィー... [more] DC2016-76
pp.11-16
DC 2017-02-21
12:00
東京 機械振興会館 機械学習を用いたフェールチップ判別の性能向上に関する検討
柚留木大地大竹哲史大分大)・中村芳行ルネサス システムデザインDC2016-77
今日,半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる.
LSIの品質を保ちつつ,テストコスト... [more]
DC2016-77
pp.17-22
DC 2017-02-21
14:00
東京 機械振興会館 Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems
Tsuyoshi IwagakiKohta ItaniHideyuki IchiharaTomoo InoueHiroshima City Univ.DC2016-78
 [more] DC2016-78
pp.23-28
DC 2017-02-21
14:25
東京 機械振興会館 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法
二関森人細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2016-79
スキャン設計回路は,ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている.上述の課題を解決するために... [more] DC2016-79
pp.29-34
DC 2017-02-21
15:05
東京 機械振興会館 拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計法
山崎紘史細川利典日大)・藤原秀雄阪学院大DC2016-80
 [more] DC2016-80
pp.35-40
DC 2017-02-21
15:30
東京 機械振興会館 低コスト型の回避ルーティングの一考察
杉浦佑介小薄誠也酒井和哉福本 聡首都大東京DC2016-81
データのセキュリティを保持するためには一般的に暗号化が用いられているが,ハードウェアの発達に伴う計算能力の向上により,暗... [more] DC2016-81
pp.41-44
DC 2017-02-21
16:10
東京 機械振興会館 FPGAに実装したリングオシレータの特性に関する考察
佐藤晃平三浦幸也首都大東京DC2016-82
FPGA(Field Programmable Gate Array)とは任意の論理機能を何度も書き換えて実装することが... [more] DC2016-82
pp.45-52
DC 2017-02-21
16:35
東京 機械振興会館 三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE ~ アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 ~
亀山修一愛媛大/富士通)・王 森レイ高橋 寛愛媛大DC2016-83
本稿では製品の品質評価のための回路をLSIやボードに組込む設計手法,評価容易化設計(Design for Evaluat... [more] DC2016-83
pp.53-58
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