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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 15:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 徐 雁レイ・三浦 怜・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）  DC2022-89 |
近年超大規模集積回路の微細化，高速化，電源電圧の低電圧化により，タイミング遅延を伴う欠陥が増加している．それゆえ， 遷移... [more] | DC2022-89 pp.39-44 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:40 |
ONLINE | オンライン開催 | コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法 ○飯塚恭平・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2020-63 DC2020-93 |
近年，VLSIの微細化，高速化，電源電圧の低下に伴い，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっ... [more] | CPSY2020-63 DC2020-93 pp.79-84 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 15:20 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法 ○石山悠太・細川利典・池ヶ谷祐輝（日大） VLD2019-43 DC2019-67 |
テスト容易化設計手法において，高い故障検出効率を維持したまま，面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要であ... [more] | VLD2019-43 DC2019-67 pp.133-138 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 16:35 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 独立経路ペアの遅延差を用いたハードウェアトロイ検出テスト生成 ○力野 英・平本悠翔郎・大竹哲史（大分大） VLD2019-46 DC2019-70 |
LSIの信頼性の向上のため，ハードウェアトロイの検出が重要である． 本稿ではハードウェアトロイが挿入された信号線におい... [more] |
VLD2019-46 DC2019-70 pp.151-155 |
| DC | 2019-02-27 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法 ○吉村正義（京都産大）・竹内勇希・山崎紘史・細川利典（日大） DC2018-78 |
近年，VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し，遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である．しかし，回路... [more] | DC2018-78 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-06 14:30 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | 遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法 ○渡邊恭之介・大竹哲史（大分大） VLD2017-35 DC2017-41 |
大規模集積回路の微細化や高速化に伴い，遅延テストの重要性が高まっている． 遅延故障モデルとして，論理ゲートの遅延が増加... [more] |
VLD2017-35 DC2017-41 pp.49-54 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:50 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | SATソルバを用いた信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタン生成手法について ○松永裕介（九大） VLD2016-63 DC2016-57 |
本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する SATソルバを用いた手法について考察を行う． ... [more] |
VLD2016-63 DC2016-57 pp.111-115 |
| VLD, CAS, MSS, SIP (共催) |
2016-06-16 10:30 |
青森 | 弘前市立観光館 | 信号遷移回数を考慮したランダムテストパタン生成法について ○松永裕介（九大） CAS2016-4 VLD2016-10 SIP2016-38 MSS2016-4 |
本稿ではランダムパタンを用いて遷移故障向けのテストパタン生成をする際に， 信号遷移回数を考慮する手法について提案する... [more] |
CAS2016-4 VLD2016-10 SIP2016-38 MSS2016-4 pp.19-22 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 10:05 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2014-99 DC2014-53 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | VLD2014-99 DC2014-53 pp.185-190 |
| DC | 2014-02-10 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2013-83 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-83 pp.25-30 |
| DC | 2014-02-10 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-89 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 09:45 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | RTL情報を用いた高品質遷移故障テスト生成法 ○中島寛之・大竹哲史（大分大） VLD2013-94 DC2013-60 |
大規模集積回路(VLSI)の微細化や高速化に伴い，遅延故障のテストが重要になっている．遅延故障とは，論理ゲートや配線の遅... [more] | VLD2013-94 DC2013-60 pp.239-244 |
| DC | 2012-06-22 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | 故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価 ○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2012-9 |
従来，VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている．しかしながら，近年VLSIの大... [more] | DC2012-9 pp.1-6 |
| DC | 2012-02-13 11:05 |
東京 | 機械振興会館 | パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法 ○田中広彬・宮瀬紘平・榎元和成・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2011-78 |
LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために，遅延テストが広く用いられている．本稿では，遷移遅延故障テストにおけるパ... [more] | DC2011-78 pp.13-18 |
| DC | 2012-02-13 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法 ○高橋明彦・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-82 |
近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，回路内のゲート数が増加している．それにともない，テスト対象となる故障数が増加... [more] | DC2011-82 pp.37-42 |
| DC | 2011-02-14 11:00 |
東京 | 機械振興会館 | 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-61 |
近年，製造テストで正常VLSIと判定され，出荷後のフィールド上で経年劣化の結果微小な遅延が発生し，不良VLSIとなるもの... [more] | DC2010-61 pp.13-19 |
| DC | 2010-02-15 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析 ○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2009-67 |
過剰テストは，歩留まり低下の原因の一つとなる．テスト不可能故障は，回路の機能動作に影響を与えない故障である．しかしながら... [more] | DC2009-67 pp.13-18 |
| DC | 2010-02-15 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法 ○湯本仁高・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2009-72 |
近年，半導体集積技術の進展に伴い，大規模集積回路(LSI)が大規模化，高集積化している．LSIが大規模化，高集積化するこ... [more] | DC2009-72 pp.45-50 |
| DC | 2009-06-19 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上喜信・○黒瀬洋介・大野智志・山岡弘典・高橋 寛（愛媛大）・清水良浩・相京 隆（半導体理工学研究センター）・高松雄三（愛媛大） DC2009-13 |
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い，タイミング不良である遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている．故障診断結果... [more] | DC2009-13 pp.19-24 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 13:00 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法 ○濱崎和光・細川利典（日大） VLD2008-60 DC2008-28 |
近年VLSIの大規模化，複雑化に伴い，縮退故障テスト以外に遷移故障やブリッジ故障に対するテストの要求が高まってきている．... [more] | VLD2008-60 DC2008-28 pp.1-6 |
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