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VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-30
11:20
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 組込み自己テストにおける温度均一化制御
村田絵理奈良先端大)・大竹哲史大分大/JST)・中島康彦奈良先端大VLD2011-86 DC2011-62
LSI の微細化及び高速化に伴い,製造不良や出荷後の劣化による微小遅延欠陥がチップの信頼性に関わる重要な問題となっている... [more] VLD2011-86 DC2011-62
pp.197-202
DC 2011-02-14
11:50
東京 機械振興会館 テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法
小副川絵美子米田友和井上美智子藤原秀雄奈良先端大/JSTDC2010-63
LSIのフィールド使用時における劣化検知は,LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である.劣化は遅延値の増加とし... [more] DC2010-63
pp.27-32
DC 2010-02-15
09:25
東京 機械振興会館 テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法
中尾 良米田友和井上美智子藤原秀雄奈良先端大DC2009-66
VLSIのテスト実行時は,消費電力が空間や時間でばらつき,それに伴い回路温度が変動する.一方,回路の動作遅延は温度に依存... [more] DC2009-66
pp.7-12
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