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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 14:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・石山悠太・松田竜馬・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）  VLD2019-131 HWS2019-104 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | VLD2019-131 HWS2019-104 pp.215-220 |
| CS, CAS (共催) |
2020-02-27 11:45 |
熊本 | 崇城大学 | 3D-ICにおける電源TSVの抵抗性オープン故障の検出手法 ○蜂屋孝太郎（帝京平成大）・黒川 敦（弘前大） CAS2019-104 CS2019-104 |
電源マイクロ・バンプ間の抵抗を測定することにより電源TSVの抵抗性オープン故障を検出する方法を提案する． 従来の電源T... [more] |
CAS2019-104 CS2019-104 pp.37-41 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2019-03-18 09:00 |
鹿児島 | 西之表市民会館（種子島） | 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） CPSY2018-117 DC2018-99 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | CPSY2018-117 DC2018-99 pp.315-320 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 14:40 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について ○伊勢幸太郎・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） VLD2015-42 DC2015-38 |
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に... [more] | VLD2015-42 DC2015-38 pp.31-36 |
| DC | 2013-02-13 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価 ○大栗裕人・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・樋上善信・高橋 寛（愛媛大） DC2012-84 |
半断線故障が発生すると，故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし，故障配線に信号遷移を与える検査入... [more] | DC2012-84 pp.25-30 |
| DC | 2012-06-22 14:20 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み ○高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2012-12 |
本研究では，電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配... [more] | DC2012-12 pp.21-26 |
| DC | 2010-02-15 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について ○高橋 寛・樋上喜信・首藤祐太・高棟佑司・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2009-68 |
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために，本稿では，抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す... [more] | DC2009-68 pp.19-24 |
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