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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2020-02-26 15:00 |
東京 | 機械振興会館 | LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 ○史 傑・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大）  DC2019-94 |
LSI テスト時は，通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し，LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] | DC2019-94 pp.49-54 |
| DC | 2017-02-21 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究 ○宮瀬紘平・濱崎機一（九工大）・ザウアー マティアス（フライブルク大）・ポリアン イリア（パッサウ大）・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2016-75 |
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている．今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし，低消費電... [more] | DC2016-75 pp.7-10 |
| DC | 2014-02-10 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法 ○小河 亮・岩田大志・山口賢一（奈良高専） DC2013-82 |
VLSIのテスト時にはオーバーテストを防ぐために消費電力を通常動作時程度にする必要がある．テスト時の電力が高いとテスト時... [more] | DC2013-82 pp.19-24 |
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