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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2024-02-28
15:05
東京 機械振興会館 論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究
山下友哉宮瀬紘平温 暁青九工大DC2023-101
昨今のLSI製造技術の進歩は著しい.LSIが性能優先で開発される際は,LSIの消費電力削減の優先順位は低い場合がある.し... [more] DC2023-101
pp.41-46
DC 2022-03-01
14:20
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究
星野 龍宇都宮大喜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2021-73
近年,LSIの高速化・微細化が進み, LSIが故障しているかどうかを判断するLSIのテストが困難になっている.LSIテス... [more] DC2021-73
pp.51-56
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
10:30
ONLINE オンライン開催 LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究
大庭 涼星野 竜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため,消費電力が増加する.消費電力が増加すると過度なIR-dr... [more] VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
pp.12-17
DC 2020-02-26
14:35
東京 機械振興会館 メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究
児玉優也宮瀬紘平高藤大輝温 暁青梶原誠司九工大DC2019-93
LSIのテスト時は,通常動作時と比べて消費電力が大きくなる.過度なIRドロップは,過度な遅延値を引き起こし,特に実速度テ... [more] DC2019-93
pp.43-48
EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG
(連催)
2018-11-22
15:10
海外 KAIST(韓国大田市) [ポスター講演]An Electromagnetic Field Reduction Method for Inductive Power Transfer in Transportation System
Jedok KimSeungyoung AhnKAISTEMCJ2018-75
Currently, charging electric transportation systems with wir... [more] EMCJ2018-75
p.53
DC 2018-02-20
11:00
東京 機械振興会館 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大DC2017-80
LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] DC2017-80
pp.19-24
DC 2015-06-16
15:00
東京 機械振興会館 地下3階2号室 レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究
宮瀬紘平九工大)・ザウアー マティアスベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2015-18
実速度スキャンテストにおける消費電力増大に関する問題は年々深刻化している.特に,瞬間的な過度の消費電力の増加は,過度なI... [more] DC2015-18
pp.13-18
SS 2013-01-11
11:45
沖縄 沖縄県石垣市民会館 Androidアプリケーションの運用時消費電力分析
古庄裕貴久住憲嗣九大)・神山 剛稲村 浩NTTドコモ)・中西恒夫福田 晃九大
本論文はAndroid端末上で動作するアプリケーションの省電力化のための分析に必要なデータ収集手法を提案する.従来の消費... [more] SS2012-58
pp.73-78
SANE 2012-04-26
13:00
長野 JAXA 臼田宇宙空間観測所 月エネルギー伝送衛星AMATELUS
荒川清一郎武井悠人堅田佑樹川口正浩東工大SANE2012-1
豊富な鉱物資源や魅力的な理学観測環境を有する月面赤道付近に基地を建設した場合,14日周期で訪れる夜の間に太陽光発電を行う... [more] SANE2012-1
pp.1-6
DC 2011-02-14
11:50
東京 機械振興会館 テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法
小副川絵美子米田友和井上美智子藤原秀雄奈良先端大/JSTDC2010-63
LSIのフィールド使用時における劣化検知は,LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である.劣化は遅延値の増加とし... [more] DC2010-63
pp.27-32
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