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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HWS 2024-04-19
16:25
東京 三菱電機(株) 東京ビル26階 ダイヤモンドプラザR
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
裏面赤外観察による非破壊ハードウェアトロイ検査
坂本純一堀 洋平川村信一産総研)・林 優一奈良先端大)・永田 真神戸大
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more]
CPM 2024-02-29
15:05
山形 山形大学工学部
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
磁気光学顕微鏡の観察結果を用いた磁気干渉縞の形状推定
蛯原 翼鈴木雄也中村雄一林 攀梅豊橋技科大CPM2023-109
気ホログラムメモリの性能を向上させるためには,記録媒体中の磁気ホログラムの磁化状態を定量的に評価する必要がある.そこで本... [more] CPM2023-109
pp.54-57
HWS, ICD
(共催)
2022-10-25
11:50
滋賀 立命館びわこくさつキャンパス
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
ハードウェアトロージャン検出に向けた光学顕微鏡による半導体デバイスの観察
坂根広史坂本純一川村信一産総研)・永田 真神戸大)・林 優一奈良先端大HWS2022-34 ICD2022-26
本稿ではハードウェアトロージャン(HT)の半導体デバイスへの挿入を想定し, ベンダーが設計したデバイスを, 外部ファブに... [more] HWS2022-34 ICD2022-26
pp.23-28
OME, IEE-DEI
(連催)
2022-07-18
15:00
長野 軽井沢観光振興センター会議室
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[招待講演]3Dプリンターにより作製したフレクシャ式構造化照明顕微鏡の深さ分解能評価
松井龍之介藤原大悟三重大OME2022-17
近年,3Dプリントで作製する光学顕微鏡が様々報告されている.これらはオープンソースとして公開されているものも多く,誰でも... [more] OME2022-17
pp.16-21
OME, IEE-DEI, IEE-EFM
(連催)
2022-02-10
14:25
ONLINE オンライン開催 3Dプリンターを用いたフレクシャ式構造化照明顕微鏡の低コスト作製
藤原大悟松井龍之介三重大OME2021-57
オープンソースとして公開され3Dプリントで複製可能なOpenFlexureステージおよび顕微鏡は,フレクシャ機構を採用す... [more] OME2021-57
pp.14-19
OPE, LQE
(共催)
2020-11-20
15:30
ONLINE オンライン開催 自己保持型光スイッチの短パルス動作の検討
矢島 駿狩野大輝村井俊哉庄司雄哉西山伸彦水本哲弥東工大OPE2020-49 LQE2020-29
自己保持型磁気光学光スイッチの高周波特性の改善を目的として,コプレーナ線路を用いた短パルス動作の検討を行った.大きな誘導... [more] OPE2020-49 LQE2020-29
pp.17-22
CPM 2019-02-28
14:40
東京 電通大 電子顕微鏡を利用した塗布型磁性ガーネット膜の表面観察
中筋大樹船木佑也嶋本紘己板谷年也鈴鹿高専)・西本光佑中村雄一内田裕久豊橋技科大)・橋本良介鈴鹿高専CPM2018-106
磁気光学イメージングは高空間分解能な非破壊検査手法として着目されている.しかし,先行研究ではセンサの材料である磁性ガーネ... [more] CPM2018-106
pp.23-25
EST, MW, OPE, MWP, EMT
(共催)
IEE-EMT, THz
(連催) ※学会内は併催 [詳細]
2018-07-19
10:35
北海道 洞爺観光ホテル 光アンテナを用いた広帯域赤外屈折率測定法の提案
各務 響雨宮智宏増田佳祐西山伸彦荒井滋久東工大EMT2018-21 MW2018-36 OPE2018-24 EST2018-19 MWP2018-20
「赤外屈折率」はinfrared photonicsをはじめとした様々な分野に必須のパラメータであるが、現在までに中近赤... [more] EMT2018-21 MW2018-36 OPE2018-24 EST2018-19 MWP2018-20
pp.77-82
EMD, R
(共催)
2014-02-21
13:55
大阪 パナソニック「松心会館」 開離アーク放電によるAg,AgSnO2接点表面の損傷形状の3次元的比較
長谷川 誠河村大地千歳科技大R2013-86 EMD2013-142
アーク放電に伴う接点表面形状の変化(損傷形状の形成)の観察・評価は、接点現象の理解のために重要である。これまでにクレータ... [more] R2013-86 EMD2013-142
pp.13-18
EMD 2013-11-17
09:25
海外 華中科技大学(中国・武漢) Three-dimensional observation of damage shapes caused by break arcs on Ag and AgSnO2 contact surfaces
Daichi KawamuraMakoto HasegawaChitose Inst. of Science & Tech.EMD2013-104
A growth process of damage shapes (specifically growth of a ... [more] EMD2013-104
pp.119-122
OME 2013-10-11
16:00
大阪 阪大中之島センター ネマチックおよびカイラルネマチック液晶の光学組織における不均一性のセキュリティ応用
中山敬三近畿大)・大坪順次静岡大OME2013-65
液晶材料は液晶相とガラス界面の配向処理の種類に応じて光学組織と呼ばれる特徴的なテクスチャーを示す.ネマチック液晶相とカイ... [more] OME2013-65
pp.73-76
LQE, LSJ
(共催)
2013-05-17
15:45
石川 金沢大学角間キャンパス 光捕捉された金ナノ粒子を用いスペクトル計測
佐藤 聡早崎芳夫宇都宮大LQE2013-13
金ナノ粒子は局在表面プラズモン共鳴により,表面における電場を入射波に比べて著しく大きくする特徴を持つ.また,金ナノ粒子の... [more] LQE2013-13
pp.57-61
EMD 2012-05-25
15:50
宮城 東北文化学園大 接点表面損傷形状の光学的計測システムに関する実験的検討(第2報)
高橋佳佑長谷川 誠千歳科技大EMD2012-6
開閉動作試験中に接点表面に形成されるクレータや突起形状の成長過程の観察・評価を実現する目的で、複数の視点からの観察を行う... [more] EMD2012-6
pp.27-30
EMD, R
(共催)
2012-02-17
11:25
京都 オムロンラーニングセンタ 接点表面損傷形状の光学的計測システムに関する実験的検討
高橋佳佑長谷川 誠千歳科技大R2011-44 EMD2011-118
メカニカルリレーやスイッチの電極表面は、開閉動作時のアーク放電や機械的磨耗により損傷を受ける。一般に接点材料の転移消耗特... [more] R2011-44 EMD2011-118
pp.13-18
OFT, OCS
(併催)
2011-08-25
13:15
北海道 とかちプラザ ファブリ・ペロー干渉計の原理を利用した光ファイバ端面の検査技術
渡辺 汎木原 満田中正徳豊永雅信NTT東日本OFT2011-16
ファブリ・ペロー干渉計の原理を用いた新しい光ファイバ端面検査技術を提案する。検査対象のファイバ端面に平滑な計測用ファイバ... [more] OFT2011-16
pp.1-6
OPE, EMT, LQE, PN, IEE-EMT
(共催)
2010-01-29
17:30
京都 京大桂キャンパス、Bクラスター事務管理棟 、大会議室_A会場、桂ラウンジ_B会場 誘導ラマン散乱による無染色生体イメージング
小関泰之伊東一良阪大PN2009-66 OPE2009-204 LQE2009-186
我々は誘導ラマン散乱(SRS)を用いた無染色生体の3次元可視化技術を実証した.本手法では,2波長の同期したパルスレーザ光... [more] PN2009-66 OPE2009-204 LQE2009-186
pp.167-172
ED, LQE, CPM
(共催)
2009-11-19
13:05
徳島 徳島大学(常三島キャンパス・工業会館) 半極性{11-22}InGaN量子井戸構造の近接場発光マッピング測定
金田昭男上田雅也船戸 充川上養一京大ED2009-135 CPM2009-109 LQE2009-114
ELO-GaN テンプレート上のc面InGaN量子井戸(QW)および{11-22}バルクGaN基板上のInGaN QWの... [more] ED2009-135 CPM2009-109 LQE2009-114
pp.35-38
PN, OPE, OFT, LQE
(共催)
2005-01-26
12:35
大阪 大阪大学 マイクロ波トランジスタの光応答と高速光信号検出素子への応用
中田大輔村田博司岡村康行阪大
市販のマイクロ波トランジスタ(GaAs系HEMT、C~Kuバンド小信号増幅用)に、波長633~785nmのレーザー光を光... [more] PN2004-76 OFT2004-82-1 OPE2004-183 LQE2004-130
pp.1-6
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