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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2024-02-28
13:40
東京 機械振興会館 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法
塩谷晃平西川竜矢魏 少奇王 森レイ甲斐 博樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2023-98
マルチサイクルBISTは,スキャンパターンごとに複数回のキャプチャを実行するテスト方式であり、インシステムテストにおける... [more] DC2023-98
pp.23-28
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:00
ONLINE オンライン開催 ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・山内ゆかり新井雅之日大CPSY2020-61 DC2020-91
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため,スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] CPSY2020-61 DC2020-91
pp.67-72
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
16:10
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘青野智己・○工藤壮司王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2019-45 DC2019-69
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用い... [more]
VLD2019-45 DC2019-69
pp.145-150
DC 2019-02-27
14:05
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2018-79
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな... [more] DC2018-79
pp.49-54
DC 2015-02-13
16:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価
高野秀之山崎紘史細川利典日大)・山崎浩二明大DC2014-86
スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている.しかしながら,マルチサイ... [more] DC2014-86
pp.49-54
DC 2014-06-20
14:30
東京 機械振興会館 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価
西田敏也九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大DC2014-13
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は,テスト対象パスの遅延増加等をもたらし,テスト精度低下の... [more] DC2014-13
pp.21-26
DC 2014-02-10
16:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
山崎紘史川連裕斗西間木 淳平井淳士細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大DC2013-89
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高... [more] DC2013-89
pp.61-66
DC 2010-02-15
10:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析
小河宏志細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大DC2009-67
過剰テストは,歩留まり低下の原因の一つとなる.テスト不可能故障は,回路の機能動作に影響を与えない故障である.しかしながら... [more] DC2009-67
pp.13-18
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