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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD, HWS (共催) |
2023-10-31 15:00 |
三重 | いせシティプラザ （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
セキュリティ向け三次元積層チップ の検討 ○門田和樹・長谷川陸宇・三木拓司・永田 真（神戸大）  HWS2023-57 ICD2023-36 |
2.5次元/三次元パッケージング技術は、1つのパッケージに複数のICチップを実装する方法として注目されている。これらの技... [more] | HWS2023-57 ICD2023-36 pp.16-19 |
| VLD, HWS (共催) [詳細] |
2022-03-08 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | 音声の周波数スペクトルに着目したスピーカーフォンからの電磁的情報漏えい評価法 ○上田浩行・高野誠也・藤本大介・林 優一（奈良先端大） VLD2021-102 HWS2021-79 |
スピーカーフォンに対する電磁情報漏えいの脅威が指摘されている。スピーカーフォンはリモートワークに伴い利用環境が多様化して... [more] | VLD2021-102 HWS2021-79 pp.147-152 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2021-08-18 15:35 |
ONLINE | オンライン開催 | 高速非同期逐次比較型AD変換器におけるサイドチャネル漏洩特性の評価 ○高橋亮蔵・門田和樹・三木拓司・永田 真（神戸大） SDM2021-43 ICD2021-14 |
高速なサンプリング動作を実現する非同期逐次比較型AD変換器のセキュリティを評価した。非同期逐次比較型AD変換器は、コンパ... [more] | SDM2021-43 ICD2021-14 pp.68-71 |
| SDM | 2021-01-28 14:05 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］CMOS裏面埋設配線による電源供給網と電源容量の形成およびセキュリティ向け三次元積層チップへの応用 ○門田和樹（神戸大） SDM2020-51 |
半導体集積回路技術において、電源ノイズに起因した電磁両立性、パワーインテグリティが課題となっている。シリコン基板の裏面に... [more] | SDM2020-51 pp.8-12 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-07 13:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
ICチップレベル電源雑音シミュレーションによる暗号モジュールのサイドチャネル漏洩評価 ○安田一樹・門田和樹・月岡暉裕・三浦典之・永田 真（神戸大）・カシーク スリニバサン・シャン ワン・ラン リン・イン シュン リー・ノーマン チャン（アンシス） VLD2019-142 HWS2019-115 |
本研究は半導体集積回路(ICチップ)技術による暗号モジュールにおけるサイドチャネル情報漏洩に関して、その観測量のひとつと... [more] | VLD2019-142 HWS2019-115 pp.279-282 |
| EMCJ, IEE-EMC (連催) |
2019-12-13 15:55 |
愛知 | 中京大学 名古屋キャンパス 5号棟524教室 | 大型核融合試験施設における広帯域環境電磁場と測定監視手法の開発 ○田中将裕・宇田達彦（核融合科学研）・王 建青・藤原 修（名工大）・上村佳嗣（宇都宮大） EMCJ2019-80 |
大型核融合試験施設では，プラズマを閉じ込めるための静磁場(数T)や，大容量電源に起因する低周波電磁界から，プラズマの加熱... [more] | EMCJ2019-80 pp.31-35 |
| ISEC, SITE, ICSS, EMM, HWS, BioX (共催) IPSJ-CSEC, IPSJ-SPT (共催) (連催) [詳細] |
2019-07-23 13:35 |
高知 | 高知工科大学 | ICチップレベル消費電流シミュレーションによる暗号モジュールのサイドチャネル漏洩評価 ○安田一樹・門田和樹・月岡暉裕・三浦典之・永田 真（神戸大） ISEC2019-27 SITE2019-21 BioX2019-19 HWS2019-22 ICSS2019-25 EMM2019-30 |
情報化社会の発展に伴い、半導体集積回路(ICチップ)技術による暗号モジュールにおいて電源ノイズによるサイドチャネル情報漏... [more] | ISEC2019-27 SITE2019-21 BioX2019-19 HWS2019-22 ICSS2019-25 EMM2019-30 pp.139-143 |
| NC, MBE (共催) |
2015-03-16 15:25 |
東京 | 玉川大学 | 等価回路法を用いた漏洩型樹冠の樹木画の解析 ～ 漏洩量の評価結果 ～ ○藤原 徹・神農雅彦（神心会） MBE2014-125 NC2014-76 |
樹木画試験は、実のなる木を描画する心理検査であり、心理的に脆弱な被験者は、樹冠の輪郭線を途切れた状態で描くことが知られて... [more] | MBE2014-125 NC2014-76 pp.53-56 |
| MW, ED (共催) |
2015-01-16 09:35 |
東京 | 機械振興会館 | 低リークTaONパッシベーションGaN HEMTを用いたRFテスタ用10MHz-12GHz帯超高速低歪みSP4Tスイッチ ○君島正幸・小山 慧・大西将夫（アドバンテスト研） ED2014-125 MW2014-189 |
低ゲートリークTaONパッシベーションGaN ショットキーHEMTプロセスを用いたRFテスタフロントエンド用10MHz～... [more] | ED2014-125 MW2014-189 pp.47-51 |
| ICD, SDM (共催) |
2014-08-05 10:25 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館（札幌市） | 待機時のデータ保持と待機時消費電力の低減を両立した1電源6-Tr CMOS SRAMの開発 ○伊藤隆祐（中大）・小林伸彰（長岡技科大）・榎本忠儀（中大） SDM2014-73 ICD2014-42 |
低電圧データ書き込み・データ読み出しを可能とし、待機時のデータ保持と低消費電力化を両立した1電源6-Tr CMOS SR... [more] | SDM2014-73 ICD2014-42 pp.59-64 |
| SDM | 2010-12-17 14:10 |
京都 | 京都大学(桂) | 放電電流過渡分光法を用いた高純度半絶縁性4H-SiCの欠陥評価における犠牲酸化処理の効果 ○西川誠二・北野谷征吾・松浦秀治（阪電通大） SDM2010-194 |
低抵抗率半導体の欠陥評価として過渡容量法が有用であるが，半絶縁性半導体には適用できないため，過渡電流法の1つである放電電... [more] | SDM2010-194 pp.51-56 |
| CPSY | 2009-10-20 10:30 |
東京 | 東京大学 工学部２号館1F 212 | 情報漏洩防止プラットフォーム ○横田侑樹・塩谷亮太・五島正裕・坂井修一（東大） CPSY2009-28 |
情報の流通性の向上により，様々な恩恵が生じている一方で，情報セキュリティ上の脅威，特に情報漏洩は，現代社会で大きな問題と... [more] | CPSY2009-28 pp.7-12 |
| WBS | 2009-10-16 13:00 |
大阪 | 大阪市立大学 文化交流センター | ［ポスター講演］搬送波漏洩を抑圧したKa帯UWBレーダの開発 ○圓光寺弘基・西出剛彦・橋本夏樹・小林岳彦（東京電機大） WBS2009-30 |
Ka帯UWB短距離レーダの放射電力は，平均EIRP(等価等方放射電力)のスペクトルマスクおよび尖頭電力で規制されている．... [more] | WBS2009-30 pp.31-36 |
| EMCJ | 2007-09-21 13:50 |
京都 | 同志社大学 | PCの電磁放射に含まれる表示画像情報の評価方法の提案 ○関口秀紀・瀬戸信二（NICT） EMCJ2007-48 |
パーソナルコンピュータ（以下，PC と呼ぶ）は，動作時に非意図的な電磁雑音を放射している．この放射電磁雑音には，PC 内... [more] | EMCJ2007-48 pp.31-36 |
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