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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SCE 2017-08-09
11:25
愛知 名古屋大学(東山キャンパス) AQFP回路を用いた帰還型ラッチのエネルギー評価
野副 舞竹内尚輝Christopher Ayala山梨裕希吉川信行横浜国大
我々は断熱的に動作させることで消費電力を劇的に減少させることが可能な断熱型量子磁束パラメ トロン (Adiabatic ... [more] SCE2017-12
pp.7-12
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
14:15
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討
山田晃大丸岡晴喜梅原成宏古田 潤小林和淑京都工繊大
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが,それに伴いソフトエラーに
よる信頼性の低下が問題となっている.既にソ... [more]
VLD2016-49 DC2016-43
pp.31-36
VLD, CAS, MSS, SIP
(共催)
2016-06-17
15:50
青森 弘前市立観光館 多数決イネーブルラッチを用いた非同期式回路の耐故障性に関する一検討
今井 雅弘前大)・米田友洋NII
ソフトエラーやハードウェアトロイなど様々な要因により、LSI内においてビット反転が生じ、システムが誤動作する問題がある。... [more] CAS2016-33 VLD2016-39 SIP2016-67 MSS2016-33
pp.179-184
VLD 2016-02-29
16:15
沖縄 沖縄県青年会館 A Note on the Optimization for Multi-Domain Latch-Based High-Level Synthesis
Keisuke InoueKTC)・Mineo KanekoJAIST
 [more] VLD2015-117
pp.37-42
DC 2016-02-17
16:05
東京 機械振興会館 電源ノイズによるFF回路の動作への影響に関する研究
山本拓弥三浦幸也首都大東京
近年,VLSI回路の微細化,低電圧化が進むにつれて,IR-drop のような電源ノイズが論理回路,特にSRAM(stat... [more] DC2015-96
pp.61-66
SCE 2016-01-21
10:45
東京 機械振興会館 AQFP回路のためのMajorityゲートに基づいた帰還型ラッチの提案
辻 直樹竹内尚輝知名史博奈良間達也横浜国大)・Thomas OrtleppCiS)・山梨裕希吉川信行横浜国大
我々は低電力超伝導回路として断熱型磁束量子パラメトロン (Adiabatic Quantum-Flux-Parametr... [more] SCE2015-39
pp.17-22
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-02
15:55
長崎 長崎県勤労福祉会館 15nmプロセスにおける低電力な耐ソフトエラーラッチの設計
田島咲季史 又華戸川 望柳澤政生早大
近年の微細化により,ソフトエラーによる信頼性低下が問題視されている.
従来,DICEやフリップフロップの多重化といった... [more]
VLD2015-56 DC2015-52
pp.123-127
SCE 2015-08-04
15:45
神奈川 横浜国立大学 磁気結合型磁束量子ラッチの提案と動作実証
辻 直樹竹内尚輝奈良間達也横浜国大)・Thomas OrtleppCiS)・山梨裕希吉川信行横浜国大
我々は断熱的に動作させることで消費電力を劇的に減少させることが可能な断熱型磁束量子パラメトロン (Adiabatic Q... [more] SCE2015-13
pp.29-33
WIT, SP, ASJ-H, PRMU
(共催)
2015-06-19
14:25
新潟 新潟大学駅南キャンパス「ときめいと」 上面可動・ラッチ式による点字ピン制御機構の試作
李 揚渡辺哲也新潟大
複数行表示可能な点字ディスプレイを開発するため、点字ピンの上下位置をラッチで固定する機構を考案した。点字ディスプレイ上面... [more] PRMU2015-58 SP2015-27 WIT2015-27
pp.153-156
DC 2015-06-16
15:35
東京 機械振興会館 地下3階2号室 ラッチを用いた非同期式パイプライン回路の機能テストに関する一検討
豊嶋太樹寺山恭平黒川 敦・○今井 雅弘前大
初期化フェーズによるオーバーヘッドがない 2Phaseハンドシェイクプロトコルに基づく非同期式回路として、記憶素子に D... [more] DC2015-19
pp.19-24
VLD 2015-03-03
09:15
沖縄 沖縄県青年会館 低電力耐ソフトエラーラッチの設計
田島咲季史 又華戸川 望柳澤政生早大
近年のLSIの微細化に伴い,ソフトエラーによる信頼性の低下が問題視されている.
フリップフロップの多重化等の様々なソフ... [more]
VLD2014-162
pp.55-60
IE, ICD, VLD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2014-10-02
13:25
宮城 東北大学 さくらホール 可変パイプラインのローカルなパルス生成による低消費エネルギー化手法
新井孝将史 又華戸川 望早大)・宇佐美公良芝浦工大)・柳澤政生早大
モバイル端末において性能向上による消費エネルギーの増加が問題となっており,様々な低消費エネルギー化手法が提案されている.... [more] VLD2014-61 ICD2014-54 IE2014-40
pp.7-12
IE, ICD, VLD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2013-10-08
11:50
青森 弘前大学 コラボ弘大 リーク電流抑制を伴う低電力設計方式による9bit, 20MS/s SAR ADC設計
陳 功李 明玉董 青中武繁寿北九州市大)・楊 波設計アルゴリズム研
集積回路のナノスケール製造プロセスでは、
レイアウト依存効果(Layout Dependent Effect, LDE... [more]
VLD2013-60 ICD2013-84 IE2013-60
pp.77-82
SANE 2012-10-11
15:20
海外 The SONGDO CONVENSIA, Incheon Korea 超小型人工衛星用パネル構造における保持解放機構の開発
吉野達也荒木友太宮崎康行日大
近年,各研究機関においてさまざまな特徴を持った超小型人工衛星が開発されている.本研究は,超小型人工衛星でのパネル構造にお... [more] SANE2012-86
pp.169-172
SDM, ED
(共催)
(ワークショップ)
2012-06-27
18:45
沖縄 沖縄県青年会館 A Power-Efficient 4-PAM Serial Link Receiver using a fully differential Rail-to-Rail input Dynamic Latch for Wide Dynamic Range
Junan LeeDaeho YunBongsub SongJinwook BurmSognag Univ.
This paper proposes a power-efficient 4-PAM serial link rece... [more]
ISEC 2011-12-14
14:40
東京 機械振興会館 [招待講演]Uniquness Enhancement of PUF Responces Based on the Locations of Random Outputting RS Latches
Dai YamamotoFujitsu Lab.)・Kazuo SakiyamaMitsugu IwamotoKazuo OhtaUniv. of Electro-Comm.)・Takao OchiaiMasahiko Takenaka・○Kouichi ItohFujitsu Lab.
近年,偽造不可能関数 (PUF) が注目されており,ID 生成や認証への応用が期待されている.本稿では,RS ラッチを用... [more] ISEC2011-68
p.29
DC, CPSY
(併催)
2011-07-29
09:50
鹿児島 かごしま県民交流センター 動的タイムボローイングを可能にするクロッキング方式の予備実験
吉田宗史有馬 慧倉田成己東大)・塩谷亮太名大)・五島正裕坂井修一東大
半導体プロセスが微細化するにつれて,ばらつきの問題が深刻化してきている.従来のワースト・ケース設計ではこの問題に対処する... [more] CPSY2011-11
pp.13-18
SCE 2010-10-19
14:30
東京 機械振興会館 SSPDアレー化のためのSFQ読み出し動作の実証
寺井弘高三木茂人山下太郎牧瀬圭正王 鎮NICT
超伝導単一光子検出器(SSPD)アレーを実現するために、単一磁束量子(SFQ)読み出し回路の開発を行っている。今回、SS... [more] SCE2010-31
pp.43-48
VLD 2010-09-28
15:50
京都 京都工繊大 60周年記念館 ソフトエラーに起因するパルスのラッチ確率のモデル化
平田元春吉村正義松永裕介九大
LSI(Large Scale Integrated Circuit)の信頼性を低下させる要因の一つとして,放射性粒子に... [more] VLD2010-56
pp.83-88
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-02
13:50
高知 高知市文化プラザ [招待講演]最新半導体デバイスの環境中性子線エラー ~ デザインルール22nmへのインパクトと対策 ~
伊部英史新保健一谷口 斉鳥羽忠信日立
メモリ、論理ゲートなど半導体デバイスの環境中性子線によるエラーのメカニズム、各種エラーモードの現状と22nmデザインルー... [more] CPM2009-139 ICD2009-68
pp.29-34
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