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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 15:20 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法 ○石山悠太・細川利典・池ヶ谷祐輝（日大）  VLD2019-43 DC2019-67 |
テスト容易化設計手法において，高い故障検出効率を維持したまま，面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要であ... [more] | VLD2019-43 DC2019-67 pp.133-138 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2009-05-20 15:20 |
福岡 | 北九州国際会議場 | テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法 ○小河宏志（日大）・吉村正義（九大）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2009-3 |
LSIの製造歩留まり向上策の一つとして過剰テストが重要となってきている．過剰テストの抑制策のひとつとして，テスト不可能故... [more] | VLD2009-3 pp.13-18 |
| DC | 2009-02-16 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法 吉村正義（九大）・○小河宏志（日大）・大森悠翔（富士通マイクロエレクトロニクス）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2008-69 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2008-69 pp.7-12 |
| DC | 2008-02-08 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成 大森悠翔・○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2007-70 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2007-70 pp.19-24 |
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