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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）  CPSY2021-57 DC2021-91 |
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の１つとして，n回検出テスト生成法が提案されている．さらに，テスト品質尺度として故障... [more] | CPSY2021-57 DC2021-91 pp.73-78 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 14:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・石山悠太・松田竜馬・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2019-131 HWS2019-104 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | VLD2019-131 HWS2019-104 pp.215-220 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 16:35 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 独立経路ペアの遅延差を用いたハードウェアトロイ検出テスト生成 ○力野 英・平本悠翔郎・大竹哲史（大分大） VLD2019-46 DC2019-70 |
LSIの信頼性の向上のため，ハードウェアトロイの検出が重要である． 本稿ではハードウェアトロイが挿入された信号線におい... [more] |
VLD2019-46 DC2019-70 pp.151-155 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2019-03-18 09:00 |
鹿児島 | 西之表市民会館（種子島） | 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） CPSY2018-117 DC2018-99 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | CPSY2018-117 DC2018-99 pp.315-320 |
| DC | 2019-02-27 09:50 |
東京 | 機械振興会館 | キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法 ○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2018-73 |
初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために，低消費電力を志向したドントケ判... [more] | DC2018-73 pp.13-18 |
| DC | 2011-02-14 11:00 |
東京 | 機械振興会館 | 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-61 |
近年，製造テストで正常VLSIと判定され，出荷後のフィールド上で経年劣化の結果微小な遅延が発生し，不良VLSIとなるもの... [more] | DC2010-61 pp.13-19 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 16:45 |
東京 | 機械振興会館 | 経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用 ○船津幸永・住友洋志・重田一樹・石山敏夫（NECエレクトロニクス） |
近年の微細化・大規模化の進んだLSIにおいて、CADベースの故障診断技術は、故障解析を容易化できる技術として非常に重要な... [more] | CPM2004-174 ICD2004-219 pp.71-76 |
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