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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 11:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）  DC2022-83 |
故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送... [more] | DC2022-83 pp.6-11 |
| DC | 2022-12-16 13:10 |
山口 | 旧大阪商船「海峡ロマンホール」 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
LSI微小遅延故障診断の高精度化について ○藤田慎ノ介・ステファン ホルスト・温 暁青（九工大） DC2022-72 |
今日のタイトなタイミングマージン、製造ばらつきの増加、ナノメータ技術の発達に伴い、タイミング関連の欠陥がLSI技術の発展... [more] | DC2022-72 pp.1-6 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2021-57 DC2021-91 |
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の１つとして，n回検出テスト生成法が提案されている．さらに，テスト品質尺度として故障... [more] | CPSY2021-57 DC2021-91 pp.73-78 |
| RCS, SR, NS, SeMI, RCC (併催) |
2021-07-16 14:55 |
ONLINE | オンライン開催 | ［依頼講演］通信サービス故障診断における機械学習を用いた装置コマンド自動制御化の検討 ○山内啓嗣（ソフトバンク）・木村達明（阪大） RCC2021-40 NS2021-56 RCS2021-98 SR2021-40 SeMI2021-29 |
近年，通信サービスの急速な普及と多様化により，ネットワークの装置構成は大規模・複雑化し，その運用は非常に困難になっている... [more] | RCC2021-40 NS2021-56 RCS2021-98 SR2021-40 SeMI2021-29 pp.83-87(RCC), pp.124-128(NS), pp.104-108(RCS), pp.106-110(SR), pp.82-86(SeMI) |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・山内ゆかり・新井雅之（日大） CPSY2020-61 DC2020-91 |
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため，スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] | CPSY2020-61 DC2020-91 pp.67-72 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:20 |
ONLINE | オンライン開催 | レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○土渕航平・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2020-62 DC2020-92 |
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い，超大規模集積回路において，故障解析は歩留まりの向上のために重要である．被疑故障を事前... [more] | CPSY2020-62 DC2020-92 pp.73-78 |
| KBSE, SS (共催) IPSJ-SE (連催) [詳細] |
2018-07-18 11:05 |
北海道 | 北海道・帯広市 とかちプラザ 視聴覚室／大集会室 | 状態遷移学習による分散協調システムの異常診断法 ○渡邉陽介（名大）・佐藤守一（豊田中研）・関 浩之・結縁祥治（名大） SS2018-3 KBSE2018-13 |
IoT(Internet of Things)の普及やつながるクルマの進展により,複数のシステムの連携が拡大している.シ... [more] | SS2018-3 KBSE2018-13 pp.13-18 |
| DC | 2017-02-21 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究 ○宮瀬紘平・濱崎機一（九工大）・ザウアー マティアス（フライブルク大）・ポリアン イリア（パッサウ大）・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2016-75 |
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている．今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし，低消費電... [more] | DC2016-75 pp.7-10 |
| DC | 2017-02-21 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 論理回路の組込み自己診断に関する提案 ○香川敬祐・矢野郁也・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・大竹哲史（大分大） DC2016-76 |
近年，自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している．自動車の機能安全を保証するためには，フィー... [more] | DC2016-76 pp.11-16 |
| ASN, MoNA, MICT (併催) |
2017-01-20 14:40 |
大分 | 別府 花菱ホテル | 太陽電池熱画像から異常要因を特定する深層ニューラルネットワーク ○李 丞鎬・鈴木 誠・森川博之（東大） ASN2016-87 |
太陽電池モジュールの劣化は，発電効率の低下だけでなく局所的な発熱や火災を伴うためそのメンテナンスは必要不可欠である．しか... [more] | ASN2016-87 pp.95-100 |
| DC | 2015-02-13 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価 ○高野秀之・山崎紘史・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2014-86 |
スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている．しかしながら，マルチサイ... [more] | DC2014-86 pp.49-54 |
| DC | 2012-06-22 14:20 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み ○高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2012-12 |
本研究では，電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配... [more] | DC2012-12 pp.21-26 |
| R | 2011-05-13 17:15 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 ○岸 和敬・眞田 克（高知工科大） R2011-14 |
診断精度の向上した,簡易で,高速処理可能な故障診断のソフトウェアを開発している.方式はレイ アウトから特定した故障候補を... [more] | R2011-14 pp.35-40 |
| EMD | 2010-11-12 09:15 |
海外 | 西安交通大学（中国、西安） | Calculation of Characteristic Parameters and Research of Fault Diagnosis for Aircraft Wires Existed Insulation Defects Zhang Junmin・○Zhou Xiaomeng（Beihang Univ.） EMD2010-100 |
Characteristic impedance and reflection coefficients of diff... [more] | EMD2010-100 pp.137-142 |
| EMD | 2010-11-12 16:00 |
海外 | 西安交通大学（中国、西安） | Study on test technology of electrical life for low-voltage circuit breaker ○Li Kui・Huang Shaopo・Li Wenhua・Yuan Jinli（Hebei Univ. of Tech.）・Zhang Gang（Changcheng Electrical Equipment Group）・Shi Cunming（Yueqing Jingtai Test Equipment） EMD2010-121 |
Test technology of life for low-voltage circuit breaker is s... [more] | EMD2010-121 pp.227-230 |
| EMD | 2010-11-12 17:45 |
海外 | 西安交通大学（中国、西安） | Development of Fault Modeling Platform and Inference System for Electrical Control System ○Yuan Haibin・Yuan Haiwen・Liu Yingyi（Beihang Univ.） EMD2010-127 |
Aim to dealing with prognosis health management for electric... [more] | EMD2010-127 pp.251-254 |
| SCE | 2010-07-22 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 単一磁束量子論理回路のための故障モデルとテストパターン生成手法の検討 ○鬼頭信貴（京大）・田中雅光・高木一義（名大）・高木直史（京大） SCE2010-19 |
本研究では，製造後のSFQ回路が正常に動作することを確認するためのテストの 手法について議論する． SFQ回路は高速... [more] |
SCE2010-19 pp.31-35 |
| NC, NLP, IPSJ-BIO (連催) (連催) [詳細] |
2010-06-19 15:10 |
沖縄 | 琉球大学50周年記念館 | マルチコンピュータシステムにおける確率的故障診断法 ○小林 学・高畠俊徳・天野真家（湘南工科大）・平澤茂一（サイバー大） NLP2010-23 NC2010-23 |
F.P.Preparata らは，マルチプロセッサシステムの要素である各ノードを別のいくつかのノードが独立に検査を行い，... [more] | NLP2010-23 NC2010-23 pp.205-210 |
| DC | 2010-02-15 15:40 |
東京 | 機械振興会館 | 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化 ○宮瀬紘平（九工大）・中村優介（パナソニックCCソフト）・大和勇太・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2009-76 |
LSIの微細化，高速化は欠陥の振る舞いを複雑・多様にし，故障箇所，故障の原因の特定を困難なものとしている．X故障モデルは... [more] | DC2009-76 pp.69-74 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 13:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定 ○岸 和敬・眞田 克（高知工科大） VLD2009-53 DC2009-40 |
DEFデータを用いて視覚化した配線情報と特異な故障形状のレイアウト情報は故障形状の取得と対象とする配線名の識別を可能にす... [more] | VLD2009-53 DC2009-40 pp.85-88 |
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