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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
LQE, CPM, ED
(共催)
2020-11-27
15:20
ONLINE オンライン開催 ナノストライプパターン加工した低転位密度AlNテンプレート上へのMOVPE成長と結晶性評価
伊庭由季乃正直花奈子窪谷茂幸上杉謙次郎肖 世玉三宅秀人三重大ED2020-24 CPM2020-45 LQE2020-75
Face-to-face配置でアニールしたスパッタAlNテンプレート(FFA Sp-AlN)に周期300 nmと深さ12... [more] ED2020-24 CPM2020-45 LQE2020-75
pp.91-94
LQE 2017-12-15
14:10
東京 機械振興会館 [招待講演]Recent progress of AlGaN deep-UV LEDs
Hideki Hirayama・○Masafumi JoNoritoshi MaedaRIKEN)・Yukio KashimaMarubunLQE2017-91
 [more] LQE2017-91
pp.21-26
CPM, LQE, ED
(共催)
2016-12-12
13:00
京都 京大桂キャンパス GaN自立基板上InAlN/AlN/GaNヘテロ構造に形成したNi/Auショットキー接合の電流-電圧特性
小谷淳二山田敦史石黒哲郎中村哲一富士通研ED2016-57 CPM2016-90 LQE2016-73
本研究では、InAlN High electron mobility transistor (HEMT)構造におけるショ... [more] ED2016-57 CPM2016-90 LQE2016-73
pp.1-4
ED 2014-08-01
11:45
東京 機械振興会館B3-1室 貫通転位がInSb HEMT のデバイス特性に与える影響の解析
初芝正太長井彰平藤川紗千恵東京理科大)・原 紳介遠藤 聡渡邊一世笠松章史NICT)・藤代博記東京理科大ED2014-55
転位散乱がInSb HEMTのデバイス特性に与える影響を解析するため,量子補正モンテカ
ルロ(QC-MC)シミュレータ... [more]
ED2014-55
pp.13-18
OME, EMD, CPM
(共催)
2014-06-20
14:00
東京 機械振興会館 触媒反応生成高エネルギーH2Oを用いてサファイア基板上に成長したZnOエピタキシャル膜の結晶構造と転位分布
中村友紀石塚侑己山口直也玉山泰宏安井寛治長岡技科大EMD2014-16 CPM2014-36 OME2014-24
白金ナノ粒子表面での水素と酸素の自己発熱反応を利用して高エネルギーH2Oを生成し、気相中でアルキル亜鉛ガスと衝突させ高エ... [more] EMD2014-16 CPM2014-36 OME2014-24
pp.43-48
CPM, ED, SDM
(共催)
2014-05-28
10:50
愛知 名古屋大学VBL3階 GaInN/GaNヘテロ接合における緩和過程の転位密度依存性
石原耕史近藤保成松原大幸岩谷素顕上山 智竹内哲也名城大)・赤﨑 勇名城大/名大ED2014-18 CPM2014-1 SDM2014-16
GaInN/GaNヘテロ接合はLEDや半導体レーザ、さらには太陽電池など幅広い応用が可能である。これまで本ヘテロ接合の緩... [more] ED2014-18 CPM2014-1 SDM2014-16
pp.1-6
CPM 2013-08-02
10:00
北海道 釧路生涯学習センターまなぼっと幣舞 触媒反応生成高エネルギーH2Oを用いてa面サファイア基板上に成長したZnOエピタキシャル膜の結晶構造
山口直也竹内智彦中村友紀大橋優樹永富瑛智玉山泰宏・○安井寛治長岡技科大CPM2013-49
白金ナノ粒子表面での水素と酸素の自己発熱反応を利用して高温のH2Oを生成し、気相中でアルキル亜鉛ガスと衝突させ高エネルギ... [more] CPM2013-49
pp.51-56
LQE, ED, CPM
(共催)
2011-11-17
10:55
京都 京都大学桂キャンパス 桂ホール エッチピット法によるAlNエピタキシャル膜中の貫通転位の評価
野村拓也三宅秀人平松和政三重大)・龍 祐樹桑原崇彰桑野範之九大ED2011-75 CPM2011-124 LQE2011-98
高性能AlGaN系深紫外発光デバイスの実現のためには、AlNを基板として用いることが有望である. 本研究ではエッチピット... [more] ED2011-75 CPM2011-124 LQE2011-98
pp.11-14
LQE, ED, CPM
(共催)
2011-11-17
12:55
京都 京都大学桂キャンパス 桂ホール 硬さ制御に基づく高表面品質、低転位GaN自立基板の実現
藤倉序章大島祐一吉田丈洋目黒 健斉藤俊也日立電線ED2011-77 CPM2011-126 LQE2011-100
我々の開発したボイド形成剥離法(Void-Assisted Separation; VAS法)において、GaN自立基板成... [more] ED2011-77 CPM2011-126 LQE2011-100
pp.19-24
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