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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EE | 2021-01-25 10:55 |
ONLINE | オンライン開催 (Zoom) | DC-DCコンバータの経年劣化検出について ○古賀泰之（長崎総合科学大）・古川雄大（福岡大）・梶原一宏・松井信正・黒川不二雄（長崎総合科学大）・中島善康・米澤 遊（富士通アドバンストテクノロジ）  EE2020-27 |
近年，情報通信サービスは発展を続けており，電力供給部分においても通信サービスを発展させるための一つの課題となっている．ま... [more] | EE2020-27 pp.22-26 |
| DC | 2020-12-11 13:00 |
兵庫 | 洲本市文化体育館 （淡路島） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について ○森 誠一郎・権藤昌之・三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大） DC2020-59 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の発生が懸念されており，高信頼システムに使用される場合，回路の劣化による故障が... [more] | DC2020-59 pp.1-6 |
| DC | 2019-12-20 16:30 |
和歌山 | 南紀くろしお商工会 | 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 ○三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）・麻生正雄・二見治司・松永恵士（シスウェーブ）・三浦幸也（首都大東京） DC2019-85 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドで... [more] | DC2019-85 pp.37-42 |
| R | 2019-11-28 16:25 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | 階層ベイズモデルと機械学習による劣化予測 ○貝瀬 徹・江上豊彦（兵庫県立大） R2019-49 |
本報告では，劣化進展に関する状態空間モデルを与え，機械学習を用いた推定とリアルオプションによる信頼性評価の方法論を扱う．... [more] | R2019-49 pp.35-38 |
| MSS, CAS (共催) IPSJ-AL (連催) [詳細] |
2018-11-13 13:50 |
静岡 | 熱海伊豆山温泉 ハートピア熱海 | ニューラルネットワークを用いたリチウムイオン蓄電池の劣化診断の一検討 ○有馬理仁・林 磊・福井正博（立命館大） CAS2018-73 MSS2018-49 |
太陽光発電などの再生可能エネルギーの出力変動や時間偏在性を解決するため, リチウムイオン蓄電池との連携運用が検討されてい... [more] | CAS2018-73 MSS2018-49 pp.111-114 |
| EE | 2018-01-30 13:35 |
大分 | サテライトキャンパスおおいた (大分市) | 負荷変動時のリンギング検出によるデジタル電源出力コンデンサの故障予測 ○中尾 宏・米澤 遊・中島善康（富士通研）・黒川不二雄（長崎総合科学大） EE2017-71 |
山中の携帯基地局等のインフラ系施設では、維持管理における信頼性と保守コストのバランスが課題である。中でも電源装置およびそ... [more] | EE2017-71 pp.165-170 |
| VLD | 2015-03-03 09:40 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | プロセスばらつきとBTIの相関を考慮したタイミングマージン削減手法の検討 ○籔内美智太郎・小林和淑（京都工繊大） VLD2014-163 |
プロセスばらつきとBTI (Bias Temperature Instability)の相関を考慮すること で回路設計... [more] |
VLD2014-163 pp.61-66 |
| R | 2014-11-20 13:45 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測 ○桃田 快・遠藤幸一・御堂義博・三浦克介・中前幸治（阪大） R2014-61 |
個別の半導体デバイスの使用経過時間中の特性がモニターできる仮定の下で，得られた特性からデバイスの劣化・寿命を予測する手法... [more] | R2014-61 pp.1-5 |
| CPSY, RECONF, VLD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2014-01-29 14:50 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス | FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測 ○籔内美智太郎・小林和淑（京都工繊大） VLD2013-129 CPSY2013-100 RECONF2013-83 |
65nmプロセスFPGAにおけるBTIによる経年劣化現象の回路への影響を測定データ を元にモデル化し，長期的な劣化の予... [more] |
VLD2013-129 CPSY2013-100 RECONF2013-83 pp.161-166 |
| EMD, R (共催) |
2011-02-18 15:00 |
静岡 | 静岡大学（浜松キャンパス） | IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出 ○坂本俊輔・眞田 克（高知工科大） R2010-46 EMD2010-147 |
電源電流(IDDQ)情報は論理情報に比べて高い故障検出感度を有しているためLSI評価に広く用いられている．我々はこの技術... [more] | R2010-46 EMD2010-147 pp.25-30 |
| ICD (ワークショップ) |
2010-08-16 - 2010-08-18 |
海外 | ホーチミン市百科大学 | ［招待講演］Circuit Failure Prediction by Field Test (DART) with Delay-Shift Measurement Mechanism ○Yasuo Sato・Seiji Kajihara（Kyusyu Institute of Technology）・Michiko Inoue・Tomokazu Yoneda・Satoshi Ohtake・Hideo Fujiwara（NAIST）・Yukiya Miura（Tokyo Metropolitan Univ.） |
The main task of test had traditionally been screening of ha... [more] | |
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