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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SS, DC
(共催)
2017-10-20
09:30
高知 高知市文化プラザかるぽーと SMTを用いた制約付きロケーティングアレイの生成について
金 浩阪大)・崔 銀惠産総研)・土屋達弘阪大
本研究では,ソフトウェアシステムに対するテスト手法の一例である組み合わせテストについて議論す
る.具体的には,組み合わ... [more]
SS2017-30 DC2017-29
pp.55-60
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
14:10
長崎 長崎県勤労福祉会館 遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成
嶋津大地大竹哲史大分大
本稿では,遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSR及びMISRシード生成法を提案する.
従来より使用されているシ... [more]
VLD2015-70 DC2015-66
pp.213-218
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-29
08:55
鹿児島 鹿児島県文化センター 遅延故障BIST向けLFSRシード生成法
本田太郎大竹哲史大分大
本稿では,遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSRシード生成法を提案する.従来のシード生成法では,故障を検出するテ... [more] VLD2013-92 DC2013-58
pp.227-231
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-29
09:45
鹿児島 鹿児島県文化センター RTL情報を用いた高品質遷移故障テスト生成法
中島寛之大竹哲史大分大
大規模集積回路(VLSI)の微細化や高速化に伴い,遅延故障のテストが重要になっている.遅延故障とは,論理ゲートや配線の遅... [more] VLD2013-94 DC2013-60
pp.239-244
DC 2011-02-14
14:10
東京 機械振興会館 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法
早川鉄平細川利典日大)・吉村正義九大
近年,より抽象度の高い動作記述を用いて大規模集積回路の設計が行われている.動作記述から動作合成を用いて生成されるレジスタ... [more] DC2010-65
pp.39-44
VLD, IPSJ-SLDM
(共催)
2006-05-12
11:15
愛媛 愛媛大学 Power-Conscious Microprocessor-Based Testing of System-on-Chip
Fawnizu Azmadi HussinTomokazu YonedaNAIST)・Alex OrailogluUniv. of California)・Hideo FujiwaraNAIST
 [more] VLD2006-10
pp.25-30
VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
2005-12-02
09:55
福岡 北九州国際会議場 A Broadside Test Generation Method for Transition Faults in Partial Scan Circuits
Tsuyoshi IwagakiJAIST)・Satoshi OhtakeHideo FujiwaraNAIST
This paper presents a broadside test generation method for
... [more]
VLD2005-77 ICD2005-172 DC2005-54
pp.7-12
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