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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2019-02-27
09:50
東京 機械振興会館 キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2018-73
初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために,低消費電力を志向したドントケ判... [more] DC2018-73
pp.13-18
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
10:55
広島 サテライトキャンパスひろしま ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について
越智小百合三澤健一郎細川利典山内ゆかり新井雅之日大VLD2018-51 DC2018-37
実速度スキャンテストにおいて,過度のキャプチャ消費電力はIRドロップを引き起こし,誤テストにより歩留り損失が発生する.キ... [more] VLD2018-51 DC2018-37
pp.89-94
DC 2011-02-14
10:25
東京 機械振興会館 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
坂井僚太宮瀬紘平温 暁青九工大)・麻生正雄古川 寛ルネサス マイクロシステム)・大和勇太福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司九工大DC2010-60
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の... [more] DC2010-60
pp.7-12
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