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電磁界理論技術委員会 (IEE-EMT)
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次世代産業システム (IEE-IIS)
情報システム研究会 (IEE-IS)
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マグネティックス研究会 (IEE-MAG)
医用・生体工学技術委員会 (IEE-MBE)
マイクロマシン・センサシステム研究会 (IEE-MSS)
光・量子デバイス技術委員会 (IEE-OQD)
スマートファシリティ研究会 (IEE-SMF)
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研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
HWS
,
VLD
(共催)
[詳細]
2020-03-06
14:30
沖縄
沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
○
山崎紘史
・
石山悠太
・
松田竜馬
・
細川利典
(
日大
)・
吉村正義
(
京都産大
)・
新井雅之
(
日大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)
VLD2019-131 HWS2019-104
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴...
[more]
VLD2019-131
HWS2019-104
pp.215-220
CPSY
,
DC
(共催)
IPSJ-SLDM
,
IPSJ-EMB
,
IPSJ-ARC
(共催)
(連催)
[詳細]
2019-03-18
09:00
鹿児島
西之表市民会館(種子島)
最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
○
山崎紘史
・
細川利典
(
日大
)・
吉村正義
(
京都産大
)・
新井雅之
(
日大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)
CPSY2018-117 DC2018-99
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴...
[more]
CPSY2018-117
DC2018-99
pp.315-320
DC
2016-02-17
10:50
東京
機械振興会館
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
○
藤谷和依
・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御...
[more]
DC2015-88
pp.13-18
LQE
,
EST
,
OPE
,
EMT
,
PN
,
MWP
(共催)
IEE-EMT
,
PEM
(連催)
※学会内は併催
[詳細]
2016-01-28
09:05
兵庫
神戸市産業振興センター
反復法によるSIR共振器と平行結合三線路を組み合わせた超広帯域BPFの合成
○
陳 春平
・
加藤紀樹
・
穴田哲夫
(
神奈川大
)・
武田重喜
(
アンテナ技研
)・
馬 哲旺
(
埼玉大
)
PN2015-59 EMT2015-110 OPE2015-172 LQE2015-159 EST2015-116 MWP2015-85
平行結合3線路構造は平行結合2線路より結合が強いため,超広帯域フィルタの設計に良く使用されている.しかし,従来の合成理論...
[more]
PN2015-59
EMT2015-110
OPE2015-172
LQE2015-159
EST2015-116
MWP2015-85
pp.159-164
VLD
,
DC
,
IPSJ-SLDM
(連催)
ICD
,
CPM
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2015-12-01
14:40
長崎
長崎県勤労福祉会館
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
○
伊勢幸太郎
・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
VLD2015-42 DC2015-38
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に...
[more]
VLD2015-42
DC2015-38
pp.31-36
RCS
,
SR
,
SRW
(併催)
2015-03-04
09:00
東京
東京工業大学
ミリ波帯通信システムにおける隣接チャネル間干渉除去のための増幅器非線形特性の推定に関する一検討
○
大澤 昇
・
衣斐信介
・
阪口 啓
・
三瓶政一
(
阪大
)
RCS2014-308
本稿では,ミリ波帯無線通信における隣接チャネル間干渉 (ACI: Adjacent Channel Interferen...
[more]
RCS2014-308
pp.41-46
MWP
,
EMT
,
PN
,
LQE
,
OPE
,
EST
(共催)
IEE-EMT
(連催)
[詳細]
2014-01-23
10:30
京都
同志社大学(烏丸キャンパス)
飛び越し結合を考慮した平行結合3線路を用いた広帯域フィルタの理論合成
○
陳 春平
・
小田純矢
・
加藤丈政
・
鎌田克洋
・
加藤紀樹
・
穴田哲夫
(
神奈川大
)
PN2013-37 OPE2013-151 LQE2013-137 EST2013-86 MWP2013-57
平行結合3線路構造に対する飛び越し結合を含めた新たしい等価回路を導出し,それを用いた広帯域フィルタを設計するための反復法...
[more]
PN2013-37
OPE2013-151
LQE2013-137
EST2013-86
MWP2013-57
pp.17-22
DC
2013-02-13
13:30
東京
機械振興会館
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価
○
大栗裕人
・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
堤 利幸
・
山崎浩二
(
明大
)・
樋上善信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
DC2012-84
半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入...
[more]
DC2012-84
pp.25-30
DC
2012-06-22
14:20
東京
機械振興会館
[招待講演]シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み
○
高橋 寛
・
樋上喜信
(
愛媛大
)・
堤 利幸
・
山崎浩二
(
明大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)
DC2012-12
本研究では,電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配...
[more]
DC2012-12
pp.21-26
DC
2010-02-15
10:25
東京
機械振興会館
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について
○
高橋 寛
・
樋上喜信
・
首藤祐太
・
高棟佑司
・
高松雄三
(
愛媛大
)・
堤 利幸
・
山崎浩二
(
明大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)
DC2009-68
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために,本稿では,抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す...
[more]
DC2009-68
pp.19-24
MW
2009-09-25
17:15
東京
電通大
[特別講演]動的プリディストーション技術を用いたWCDMA用低歪電力増幅器
○
山之内慎吾
・
青木雄一
・
國弘和明
(
NEC
)・
平山知央
(
NECエレクトロニクス
)・
宮崎 孝
(
NEC
)・
樋田 光
(
NECエレクトロニクス
)
MW2009-90
変調波信号入力時のAM-AMとAM-PM(動的歪特性)を補償する動的プリディストータ(PD)技術を開発しWCDMA用電力...
[more]
MW2009-90
pp.93-98
DC
2009-02-16
14:15
東京
機械振興会館
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて
○
渡部哲也
・
高橋 寛
・
樋上喜信
(
愛媛大
)・
堤 利幸
・
山崎浩二
(
明大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
高松雄三
(
愛媛大
)
DC2008-74
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
オープン故...
[more]
DC2008-74
pp.37-42
DC
2008-06-20
15:50
東京
機械振興会館
オープン故障診断の性能向上について
○
山崎浩二
・
堤 利幸
(
明大
)・
高橋 寛
・
樋上喜信
・
相京 隆
(
愛媛大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
高松雄三
(
愛媛大
)
DC2008-16
回路の微細化や銅配線の導入により,配線やビアの断線の発生頻度が高まっている.そのため,オープン故障診断法の開発の重要性が...
[more]
DC2008-16
pp.29-34
RCS
,
AN
,
MoNA
,
SR
,
WBS
(併催)
2008-03-05
17:50
神奈川
YRP
Performance Evaluation on Interference-Resistance of a Multi-Gbps WPAN 60GHz System
○
Chin-Sean Sum
・
Ryuhei Funada
・
Junyi Wang
・
Tuncer Baykas
・
Ming Lei
・
Yoshinori Nishiguchi
・
Ryota Kimura
・
Mohammad Azizur Rahman
・
Yozo Shoji
・
Hiroshi Harada
・
Shuzo Kato
(
NICT
)
RCS2007-207
[more]
RCS2007-207
pp.127-131
14件中 1~14件目
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