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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2024-02-28 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法 ○塩谷晃平・西川竜矢・魏 少奇・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）  DC2023-98 |
マルチサイクルBISTは，スキャンパターンごとに複数回のキャプチャを実行するテスト方式であり、インシステムテストにおける... [more] | DC2023-98 pp.23-28 |
| ICSS | 2020-11-26 16:00 |
ONLINE | オンライン開催 | TEE技術に基づく非対話紛失通信プロトコルの構成 ○小林正英・西出隆志（筑波大） ICSS2020-24 |
紛失通信は，データの送信者と受信者の二者間で行われるプロトコルであり，主に秘密計算やOne-Time Programsな... [more] | ICSS2020-24 pp.26-31 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 15:20 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法 ○石山悠太・細川利典・池ヶ谷祐輝（日大） VLD2019-43 DC2019-67 |
テスト容易化設計手法において，高い故障検出効率を維持したまま，面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要であ... [more] | VLD2019-43 DC2019-67 pp.133-138 |
| DC | 2019-02-27 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | コントローラのテスト活性化用状態圧縮法 ○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典・山崎紘史（日大） DC2018-80 |
VLSIのテストにおける課題の一つとして，テスト容易化設計回路の面積削減と故障検出効率の向上が挙げられる．その課題を解決... [more] | DC2018-80 pp.55-60 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-06 14:30 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | 遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法 ○渡邊恭之介・大竹哲史（大分大） VLD2017-35 DC2017-41 |
大規模集積回路の微細化や高速化に伴い，遅延テストの重要性が高まっている． 遅延故障モデルとして，論理ゲートの遅延が増加... [more] |
VLD2017-35 DC2017-41 pp.49-54 |
| KBSE | 2017-03-03 12:50 |
石川 | 石川県金沢市 ITビジネスプラザ武蔵 研修室1 | キャッシュの効率利用による自己適応システムの動的モデル検査法改善 ○外山大夢・中川博之・小島英春・土屋達弘（阪大） KBSE2016-40 |
近年，システム自身の振る舞いを変化させる自己適応システムに注目が集まっているが，振る舞い変更時に変更後の振る舞いの正しさ... [more] | KBSE2016-40 pp.7-12 |
| DC | 2017-02-21 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法 ○二関森人・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2016-79 |
スキャン設計回路は，ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている．上述の課題を解決するために... [more] | DC2016-79 pp.29-34 |
| DC | 2016-06-20 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | テスト容易化機能的時間展開モデル生成のためのテスト容易化バインディング法 ○佐藤 護・細川利典・増田哲也・西間木 淳（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2016-14 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている... [more] | DC2016-14 pp.25-30 |
| DC | 2015-02-13 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 階層BIST向けLFSRシード生成法 ○佐脇光亮・大竹哲史（大分大） DC2014-85 |
組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成器の一つに線形フィードバックレジスタ(LFSR)がある． LFS... [more] |
DC2014-85 pp.43-48 |
| DC | 2014-06-20 16:25 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-17 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k... [more] | DC2014-17 pp.45-50 |
| DC | 2013-06-21 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 ○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2013-10 |
近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提... [more] | DC2013-10 pp.1-6 |
| NC, NLP (共催) |
2013-01-24 14:30 |
北海道 | 北海道大学百年記念会館 | 時間遅延ダイナミカルシステムにおける有限時間リアプノフ指数の算出 ○菅野円隆・内田淳史（埼玉大） NLP2012-116 NC2012-106 |
リアプノフ指数はシステムの状態空間における軌道に与えられた微小な揺らぎの指数関数的な拡大（縮小）率を表し，アトラクタに関... [more] | NLP2012-116 NC2012-106 pp.73-78 |
| DC | 2011-02-14 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法 ○早川鉄平・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-65 |
近年，より抽象度の高い動作記述を用いて大規模集積回路の設計が行われている．動作記述から動作合成を用いて生成されるレジスタ... [more] | DC2010-65 pp.39-44 |
| DC | 2010-06-25 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察 ○岡 伸也・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2010-9 |
無閉路可検査順序回路は実用的にテスト容易な順序回路である． その1つのクラスとして部分スルー可検査順序回路があり，順序... [more] |
DC2010-9 pp.7-11 |
| DC | 2010-02-15 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析 ○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2009-67 |
過剰テストは，歩留まり低下の原因の一つとなる．テスト不可能故障は，回路の機能動作に影響を与えない故障である．しかしながら... [more] | DC2009-67 pp.13-18 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2009-05-20 15:20 |
福岡 | 北九州国際会議場 | テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法 ○小河宏志（日大）・吉村正義（九大）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2009-3 |
LSIの製造歩留まり向上策の一つとして過剰テストが重要となってきている．過剰テストの抑制策のひとつとして，テスト不可能故... [more] | VLD2009-3 pp.13-18 |
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