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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2015-06-19
13:00
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー シリコン熱酸化膜の水素アニール効果に関する第一原理計算
川内伸悟白川裕規洗平昌晃名大)・影島愽之島根大)・遠藤哲郎東北大)・白石賢二名大SDM2015-45
なぜ高品質なSi/SiO2界面は熱酸化によって容易に形成されるのか。この疑問はシリコン技術の成功に密接に関係しているにも... [more] SDM2015-45
pp.37-40
R 2013-11-14
15:15
大阪 中央電気倶楽部 温度サイクル環境起因のSnウィスカ成長一考察
伊藤貞則イトケン事務所R2013-77
温度サイクル環境起因のSnウィスカは一般にカール状に成長するため直線長さは短いが,条件に
よっては真直ぐに長く伸びて極... [more]
R2013-77
pp.17-20
SDM 2013-06-18
09:40
東京 機械振興会館 Al2O3/Ge構造における酸化機構の解明と界面反応がその特性に及ぼす影響
柴山茂久加藤公彦坂下満男竹内和歌奈田岡紀之中塚 理財満鎭明名大SDM2013-46
現在,Al2O3/Ge構造に対するプラズマ酸化で,極薄GeOx界面層の形成により,低界面準位密度(Dit)が実現可能と報... [more] SDM2013-46
pp.13-18
SDM 2013-06-18
15:50
東京 機械振興会館 [依頼講演]SiC-MOSゲート構造の高信頼性化
先﨑純寿下里 淳田中保宣奥村 元産総研SDM2013-60
超低損失SiC-MOSパワーデバイスの実用化のため,SiC-MOS構造の高性能・高信頼性化は重要な課題である.我々はSi... [more] SDM2013-60
pp.81-86
SDM 2013-06-18
16:45
東京 機械振興会館 [依頼講演]SiC酸化メカニズム解明への試み ~ Si酸化との共通点/異なる点 ~
土方泰斗八木修平矢口裕之埼玉大SDM2013-62
SiC半導体を用いたパワーMOSFETが従来のSi系パワーデバイスを凌駕するには,SiC酸化メカニズムのより一層の理解が... [more] SDM2013-62
pp.91-96
SDM, ED
(共催)
(ワークショップ)
2012-06-27
11:30
沖縄 沖縄県青年会館 [招待講演]Gate Stack Technologies for Silicon Carbide Power MOS Devices
Takuji HosoiTakashi KirinoYusuke UenishiDaisuke IkeguchiAtthawut ChanthaphanOsaka Univ.)・Akitaka YoshigoeYuden TeraokaJAEA)・Shuhei MitaniYuki NakanoTakashi NakamuraROHM)・Takayoshi ShimuraHeiji WatanabeOsaka Univ.
 [more]
SDM 2012-06-21
10:55
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) Al2O3/Ge構造への酸素熱処理および酸素ラジカル処理による界面反応機構の解明
柴山茂久名大)・加藤公彦名大/学振)・坂下満男竹内和歌奈田岡紀之中塚 理財満鎭明名大SDM2012-48
高駆動力 Ge MOSFETの実現には,低界面準位密度(Dit)かつ低SiO2換算膜厚を有するhigh-k絶縁膜/Ge構... [more] SDM2012-48
pp.27-32
SDM 2009-06-19
10:00
東京 東京大学(生産研An棟) 分子動力学法によるGeO2/Ge界面のモデリング ~ SiO2/Siとの違い ~
渡邉孝信恩田知弥登坂 亮山本英明早大SDM2009-27
GeとOの任意の混在系を再現する原子間相互作用モデルを開発し、この相互作用モデルを用いた分子動力学シミュレーションでGe... [more] SDM2009-27
pp.3-8
OPE 2008-12-19
13:50
東京 機械振興会館 熱酸化を用いたSi量子井戸とエルビウム添加
大崎龍介石川靖彦東大)・山下善文上浦洋一岡山大)・和田一実東大OPE2008-138
希土類元素であるErをドープしたSiは、光通信波長の1.5μm帯で発光するため、シリコンフォトニクスにおける発光材料とし... [more] OPE2008-138
pp.11-16
SDM 2007-10-05
14:00
宮城 東北大学 SBSI プロセスによるSOI/BOX 層の均一形成に関する検討
野武幸輝須田雄一郎大見俊一郎東工大SDM2007-188
本研究では、SBSIプロセスによる均一なSOI/BOX層の作製を目的として、SiGe選択エッチング時におけるSi層へのダ... [more] SDM2007-188
pp.49-52
ED 2006-08-04
10:15
大阪 大阪大学 コンベンションセンター 酸化鉄ウィカーの成長とそれを用いた電子源
岡田守弘静岡大/新日鐵)・根尾陽一郎静岡大)・松本貴裕スタンレー電気)・久保村健二金沢工大)・三村秀典静岡大
鋼板を大気中で炎で熱酸化させるという簡便な方法で、鋼板表面に直径30~200nm、アスペクト比1000程度の新規な形状の... [more] ED2006-130
pp.63-65
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