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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
MSS, CAS, SIP, VLD
(共催)
2023-07-06
10:40
北海道 小樽商科大学 3号館 102教室
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
転移学習を用いた自己符号化器による逐次見逃し故障LSI検出
髙谷彩乃新谷道広京都工繊大CAS2023-4 VLD2023-4 SIP2023-20 MSS2023-4
近年,深層学習に代表される機械学習を用いた見逃し故障検出は,従来のテスト手法では検出できなかった集積回路(Large-S... [more] CAS2023-4 VLD2023-4 SIP2023-20 MSS2023-4
pp.16-21
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-13
10:55
愛媛 愛媛県男女共同参画センター Improvement of variational autoencoder based test escape detection through image conversion
Romain ChicoixTelecom SudParis)・○Michihiro ShintaniNAIST)・Kouichi KumakiRenesas Electronics)・Michiko InoueNAISTVLD2019-31 DC2019-55
In testing of large scale integration (LSI) circuit, test es... [more] VLD2019-31 DC2019-55
pp.13-18
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